[发明专利]相位平滑处理方法及装置、计算机可读存储介质在审
申请号: | 202011021930.7 | 申请日: | 2020-09-25 |
公开(公告)号: | CN112165440A | 公开(公告)日: | 2021-01-01 |
发明(设计)人: | 栾亦夫;李开;罗丽云 | 申请(专利权)人: | 锐迪科创微电子(北京)有限公司 |
主分类号: | H04L27/16 | 分类号: | H04L27/16;H04L27/12;H04L27/32 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李笑笑 |
地址: | 100083 北京市海淀区知*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 相位 平滑 处理 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种相位平滑处理方法,其特征在于,包括:
获取相位信号中当前采样点的信号幅度;
在确定所述当前采样点的信号幅度小于预设幅度门限时,获取所述当前采样点的相位值与第一采样点的相位值的差值;
当所述当前采样点的相位值与所述第一采样点的相位值的差值大于预设第一门限时,对所述当前采样点的相位值进行更新。
2.如权利要求1所述的相位平滑处理方法,其特征在于,所述对所述当前采样点的相位值进行更新,包括:
求取所述当前采样点的相位值与所述第一采样点的相位值的平均值,作为更新后的所述当前采样点的相位值。
3.如权利要求2所述的相位平滑处理方法,其特征在于,所述第一采样点在时序上早于所述当前采样点。
4.如权利要求3所述的相位平滑处理方法,其特征在于,所述第一采样点为所述当前采样点的前一采样点。
5.如权利要求1~4任一项所述的相位平滑处理方法,其特征在于,在对所述当前采样点的相位值进行更新后,还包括:
对经过相位平滑处理的当前采样点的相位信号进行微分处理。
6.一种相位平滑处理方法,其特征在于,包括:
获取当前采样点的信号幅度;
在确定所述当前采样点的信号幅度小于预设幅度门限时,判断所述当前采样点的调频信号的频率值是否大于预设第二门限;
当所述当前采样点的调频信号的频率值大于所述第二门限时,对所述当前采样点的调频信号频率进行更新。
7.如权利要求6所述的相位平滑处理方法,其特征在于,所述对所述当前采样点的调频信号频率进行更新,包括:
将所述当前采样点的调频信号频率的1/2,作为更新后的所述当前采样点的调频信号频率。
8.如权利要求7所述的相位平滑处理方法,其特征在于,在对所述当前采样点的调频信号频率进行更新之后,还包括:
计算所述更新后的当前采样点的调频信号频率与第二采样点的调频信号频率的和值,将所述和值作为更新后的所述第二采样点的调频信号频率。
9.如权利要求8所述的相位平滑处理方法,其特征在于,所述第二采样点在时序上晚于所述当前采样点。
10.如权利要求9所述的相位平滑处理方法,其特征在于,所述第二采样点为所述当前采样点的后一采样点。
11.一种相位平滑处理装置,其特征在于,包括:
第一获取单元,用于获取当前采样点的信号幅度;
计算单元,用于在确定所述当前采样点的信号幅度小于预设幅度门限时,获取所述当前采样点的相位值与第一采样点的相位值的差值;
第一更新单元,用于当所述当前采样点的相位值与所述第一采样点的相位值的差值大于预设第一门限时,对所述当前采样点的相位值进行更新。
12.一种相位平滑处理装置,其特征在于,包括:
第二获取单元,用于获取当前采样点的信号幅度;
判断单元,用于在确定所述当前采样点的信号幅度小于预设幅度门限时,判断所述当前采样点的调频信号的频率值是否大于预设第二门限;
第二更新单元,用于当所述当前采样点的调频信号的频率值大于所述第二门限时,对所述当前采样点的调频信号频率进行更新。
13.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质为非易失性存储介质或非瞬态存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器运行时执行权利要求1~5或6~10任一项所述的相位平滑处理方法的步骤。
14.一种相位平滑处理装置,包括存储器和处理器,所述存储器上存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器运行所述计算机程序时执行权利要求1~5或6~10任一项所述的相位平滑处理方法的步骤。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于锐迪科创微电子(北京)有限公司,未经锐迪科创微电子(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202011021930.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。