[发明专利]一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置

权利要求书

1.一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，包括有工作主板（1），其特征在于，所述工作主板（1）的底部固定连接有底板（2），所述底板（2）顶部的左右两侧均固定连接有套筒（3），两个所述套筒（3）关于底板（2）的中心相互对称，所述套筒（3）外表面的顶部固定连接有电子元件定位板（4），所述电子元件定位板（4）的顶部开设有电子元件放置槽（5），所述电子元件放置槽（5）内底部的左右两侧均固定连接有安装板（6），所述安装板（6）内部的前后两侧均滑动连接有滑动杆（7），所述滑动杆（7）的一端与电子元件放置槽（5）内表面的一侧滑动连接，所述滑动杆（7）的另一端固定连接有夹板（8），所述夹板（8）的一侧与两个滑动杆（7）相连接。

2.根据权利要求1所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，所述滑动杆（7）设置有四个，四个所述滑动杆（7）的外表面且位于安装板（6）与夹板（8）之间均套设有第一弹簧（9），两个所述套筒（3）内表面的底部均固定连接有第二弹簧（10），所述第二弹簧（10）的顶端固定连接有定厚板支撑柱（11），两个所述定厚板支撑柱（11）的顶端均固定连接有套柱（12），两个所述套柱（12）相互靠近的一侧之间通过转轴（13）转动连接有辊筒（14），所述辊筒（14）的外表面套设有磨砂圈（15）。

3.根据权利要求2所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，所述工作主板（1）正面的左侧固定连接有连接滑轨（16），所述连接滑轨（16）的正面滑动连接有套壳（17），所述套壳（17）的内部固定连接有电机（18），所述电机（18）的输出端与转轴（13）的左端固定连接。

4.根据权利要求2所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，两个所述定厚板支撑柱（11）相互远离的一侧均固定连接有按压把手（19），两个所述定厚板支撑柱（11）的规格一致，两个所述按压把手（19）在同一水平线上，且两个按压把手（19）规格一致，两个所述按压把手（19）关于工作主板（1）的中心相互对称。

5.根据权利要求1所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，所述工作主板（1）的正面且位于电子元件定位板（4）的上方开设有竖槽（20），所述竖槽（20）位于工作主板（1）的中心，所述竖槽（20）的内表面固定连接有多个连接筒（21），所述连接筒（21）的内表面通过第三弹簧（22）固定连接有限位柱（23）。

6.根据权利要求5所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，所述竖槽（20）的内表面活动安装有刻度尺板（24），所述刻度尺板（24）的顶部固定连接有固定连接有安装块（25），所述刻度尺板（24）的外表面开设有多个限位孔（26），所述安装块（25）的外表面开设有卡槽。

7.根据权利要求6所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，所述限位柱（23）的数量与限位孔（26）的数量相等，所述限位柱（23）的规格与限位孔（26）的规格相适配，所述限位柱（23）的外表面与限位孔（26）的内表面活动连接。

8.根据权利要求6所述的一种电子信息元器件检测样品减薄定厚装置，其特征在于，所述竖槽（20）内表面的顶部转动连接有转动件（27），所述转动件（27）的底部固定连接有卡块（28），所述卡块（28）的外表面与卡槽的内表面活动连接。