[发明专利]一种X射线成像方法、装置、设备和介质

权利要求书

1.一种X射线成像方法，其特征在于，包括：

基于预设第一曝光参数获取成像对象的第一曝光图像；

根据所述第一曝光图像确定目标第一曝光参数，并根据所述目标第一曝光参数和所述预设第一曝光参数确定调正第一曝光参数，其中，所述调正第一曝光参数小于所述目标第一曝光参数；

基于所述调正第一曝光参数获取所述成像对象的第二曝光图像；

将所述第一曝光图像和所述第二曝光图像进行叠加得到目标图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一曝光图像确定目标第一曝光参数，包括：

基于所述第一曝光图像分析所述成像对象的组织组成，并根据所述组织组成计算确定所述目标第一曝光参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述目标第一曝光参数和所述预设第一曝光参数确定调正第一曝光参数，包括：

将所述目标第一曝光参数与所述预设第一曝光参数的差值作为所述调正第一曝光参数。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述成像对象是乳房，所述根据所述组织组成计算确定所述目标第一曝光参数，包括：

根据乳房的乳腺组成计算确定所述目标第一曝光参数。

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述第一曝光参数是电流时间积，相应的，所述将所述目标第一曝光参数与所述预设第一曝光参数的差值作为所述调正第一曝光参数，包括：

将目标的电流时间积与预设电流时间积的差值作为调正电流时间积。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于预设第一曝光参数获取成像对象的第一曝光图像包括:基于预设第一曝光参数和第二曝光参数获取乳房的第一曝光图像；对应的，

所述基于所述调正第一曝光参数获取所述乳房的第二曝光图像包括：基于所述调正第一曝光参数以及所述第二曝光参数获取所述乳房的第二曝光图像；

其中，所述第二曝光参数为电压值，所述电压值是根据被压迫状态下的所述乳房厚度计算确定的数值。

7.一种X射线成像装置，其特征在于，包括：

第一曝光图像获取模块，用于基于预设第一曝光参数获取成像对象的第一曝光图像；

调正参数获取模块，用于根据所述第一曝光图像确定目标第一曝光参数，并根据所述目标第一曝光参数和所述预设第一曝光参数确定调正第一曝光参数，其中，所述调正第一曝光参数小于所述目标第一曝光参数；

第二曝光图像获取模块，用于基于所述调正第一曝光参数获取所述成像对象的第二曝光图像；

目标图像获取模块，用于将所述第一曝光图像和所述第二曝光图像进行叠加得到目标图像。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，所述调正参数获取模块具体用于：

将所述目标第一曝光参数与所述预设第一曝光参数的差值作为所述调正第一曝光参数。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储装置，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的X射线成像方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的X射线成像方法。