[发明专利]一种测试组件及集成电路测试机在审

专利信息
申请号: 202011018344.7 申请日: 2020-09-24
公开(公告)号: CN112255527A 公开(公告)日: 2021-01-22
发明(设计)人: 张经祥;魏津;杜宇 申请(专利权)人: 胜达克半导体科技(上海)有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 曹廷廷
地址: 201799 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 组件 集成电路
【权利要求书】:

1.一种测试组件,用于集成电路测试机,其特征在于,包括通信连接的核心逻辑单元和向量内存,所述核心逻辑单元包括可编程输入端和核心电路,所述向量内存存储有被测芯片的数据格式描述文件;

所述向量内存被配置为,当满足预设条件时,向所述核心电路发送所述数据格式描述文件;

所述核心电路被配置为,用于接收所述数据格式描述文件和时钟信号,并根据自身逻辑输出与所述时钟信号的周期同步的测试信号;

所述核心逻辑单元被配置为,用于通过可编程输入端接收可编程信号,并根据所述可编程信号改写所述核心电路。

2.根据权利要求1所述的测试组件,其特征在于,所述核心逻辑单元包括FPGA芯片,所述FPGA芯片包括所述可编程输入端和所述核心电路。

3.根据权利要求1所述的测试组件,其特征在于,所述测试组件还包括配置存储器,所述配置存储器存储有核心程序并与所述可编程输入端通信连接,所述配置存储器被配置为,在所述测试组件上电后,根据自身的核心程序向所述可编程输入端发送可编程信号,并驱使所述核心电路进行改写。

4.根据权利要求1所述的测试组件,其特征在于,所述测试组件还包括算法模拟单元,所述向量内存通过所述算法模拟单元与所述核心逻辑单元通信连接,所述算法模拟单元用于将所述数据格式描述文件的格式转化为所述核心逻辑单元能够解析的格式。

5.根据权利要求1所述的测试组件,其特征在于,所述测试组件还包括数字信号处理单元,所述数字信号处理单元与所述核心逻辑单元通信连接,用于辅助所述核心逻辑单元处理数字信号运算。

6.根据权利要求1所述的测试组件,其特征在于,所述测试组件还包括抓取内存,所述抓取内存用于接收被测试芯片的输出信号,并进行储存。

7.根据权利要求6所述的测试组件,其特征在于,所述抓取内存与向量内存通信连接,所述向量内存被配置为,当满足预设条件时,向所述抓取内存发送所述数据格式描述文件,所述抓取内存被配置为,根据接收到的所述数据格式描述文件对接收到的被测试芯片的输出信号进行格式转化,然后再进行储存。

8.根据权利要求1所述的测试组件,其特征在于,所述测试组件还包括扫描内存,扫描内存被配置为可独立于所述核心逻辑单元输出测试信号。

9.根据权利要求8所述的测试组件,其特征在于,所述扫描内存仅包括一个输入端和一个输出端。

10.一种集成电路测试机,其特征在于,所述集成电路测试机包括测试负载板和如权利要求1~9任一项所述的测试组件,所述测试组件与所述测试负载板可拆卸地连接,所述测试负载板的控制端与所述核心电路通信连接,所述核心电路通过所述测试负载板上的功能电路与被测芯片通信连接。

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