[发明专利]显示面板及检测方法

说明书

本申请提供一种显示面板，其包括：显示区、设置于显示区周围的非显示区以及检测电路，该检测电路包括：设置于显示区的M条扫描线、N条数据线和多个发光单元以及设置于非显示区的M个第一测试点和N个第二测试点，M和N均为大于或等于2的整数；M条扫描线和N条数据线之间相交且相互绝缘设置，且每条扫描线与每条数据线相交处形成一个交点；每个发光单元的一端与形成所述交点的扫描线电性连接，另一端与形成该交点的数据线电性连接；每个第一测试点与每条扫描线电性连接，并通过该扫描线与所述发光单元的一端电性连接，每个第二测试点与每条数据线电性连接，并通过该数据线与所述发光单元的另一端电性连接。此外，本申请还公开了一种检测方法。

技术领域

本申请涉及一种显示面板技术领域，尤其涉及一种显示面板以及一种检测方法。

背景技术

发光二极管(Light Emitting Diode，LED)是一种能够将电能转化为光能的半导体器件，其体现出来的高对比对度、高色域远远优于现有的液晶显示器(Liquid CrystalDisplay，LCD)，因此LED显示逐渐成为主流。就目前可商业化的mini-LED而言，基本设计都是在印刷电路板(Printed Circuit Boards，PCB)上进行，当板上芯片(Chip On Board，COB)工艺(即LED被安装)结束之后，需要对PCB板进行点灯测试，以检查每个LED是否能正常点亮。但由于此时PCB板上并未安装相应的驱动集成电路(integrated circuit，IC)，因而无法对LED进行驱动。如果等到驱动IC安装完成后再对每个LED进行检测，若此时发现LED等无法正常点亮，需要将驱动IC取下进行维修，这会导致制造成本的增加和生产周期的加长。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种显示面板以及一种用于检测所述显示面板中的发光单元是否能够正常点亮的检测方法，其旨在解决现有技术中存在的现有技术无法在不打乱LED与驱动IC安装顺序的情况下实现LED安装后进行点灯测试的问题。

一种显示面板，其包括：显示区、设置于所述显示区周围的非显示区以及检测电路，所述检测电路包括：设置于所述显示区的M条扫描线、N条数据线和多个发光单元以及设置于所述非显示区的M个第一测试点和N个第二测试点，M和N均为大于或等于2的整数；其中：M条所述扫描线和N条所述数据线之间相交且相互绝缘设置，且每条所述扫描线与每条所述数据线相交处形成一个交点；每个所述发光单元的一端与形成所述交点的扫描线电性连接，其另一端与形成该交点的数据线电性连接；每个所述第一测试点与每条所述扫描线电性连接，并通过该扫描线与所述发光单元的一端电性连接，每个所述第二测试点与每条所述数据线电性连接，并通过该数据线与所述发光单元的另一端电性连接。

上述显示面板中，通过对每条扫描线都预设一个第一测试点，同时对每条数据线都预设一个第二测试点，直接对第一测试点与第二测试点施加电压信号，从而使得在驱动IC安装前就能对每个发光单元工作状态进行检测，进而实现了在不打乱发光单元与驱动IC安装顺序的情况下实现了发光单元安装后进行点灯测试。因此，该显示面板将会减少成本的浪费并缩短生产周期。

可选地，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，每个所述第一隔离器件设置在所述第一测试点上，并遮蔽该第一测试点，每个所述第二隔离器件设置在所述第二测试点上，并遮蔽该第二测试点。

可选地，所述检测电路还包括第一隔离器件和第二隔离器件，所述扫描线中每相邻的两个所述扫描线对应连接的所述第一测试点共用一个所述第一隔离器件，且所述第一隔离器件同时遮蔽与相邻的两个所述扫描线对应连接的所述第一测试点，所述数据线中每相邻的两个所述数据线对应连接的所述第二测试点共用一个所述第二隔离器件，且所述第二隔离器件同时遮蔽与相邻的两个所述数据线对应连接的所述第二测试点。