[发明专利]一种基于比色法的光纤超高温测温仪

权利要求书

1.一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，包括：光学部分(100)和电路部分(200)；所述光学部分(100)通过光纤与所述电路部分(200)固定连接；

其中，所述光学部分包括光纤耦合镜头(101)、铠装传能光纤(102)、宽带通滤光片(103)、Y型光纤分束器(104)、滤光片a(105)和滤光片b(106)；所述光纤耦合镜头(101)将待测目标辐射的红外光，耦合到铠装传能光纤(102)，依次通过宽带通滤光片(103)，Y型光纤分束器(104)均分成两部分，分别通过滤光片a(105)和滤光片b(106)；所述电路部分包括：光电探测器a(211)、光电探测器b(212)、信号预处理器a(221)、信号预处理器b(222)、AD采集a(231)、AD采集b(232)、下位机(204)、上位机(205)和显示器(206)；所述光学部分(100)的输出端分别连接到光电探测器a(211)、光电探测器b(212)输入端；所述光电探测器a(211)、所述信号预处理器a(221)和所述AD采集a(231)依次电连接；所述光电探测器b(212)、所述信号预处理器b(222)和所述AD采集b(232)依次电连接；所述AD采集a(231)和所述AD采集b(232)均与所述下位机(204)电连接；所述下位机(204)、所述上位机(205)和所述显示器(206)依次电连接。

2.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，系统工作在800-1700nm的近红外波段。

3.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，所述光纤耦合镜头(101)由镜片组(1011)和光纤连接头(1012)组成，其中所述镜片组(1011)至少包括两片镜片，所述光纤连接头(1012)与光纤连接器接头适配；待测目标辐射的红外光，经所述镜片组(1011)耦合，聚焦到所述光纤连接头(1012)处，耦合进铠装传能光纤(102)。

4.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，所述的铠装传能光纤(102)的接头为标准FC或者PC型，其芯径为100微米以上。

5.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，Y型光纤分束器(104)的芯径大于或等于铠装传能光纤(102)的芯径。

6.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，所述滤光片a(105)和所述滤光片b(106)工作在近红外波段，且在所述宽带通滤光片(103)的带通内，同时具有不同的透过中心波长，，且中心波长相差50nm以上。

7.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，所述光电探测器a(211)与所述光电探测器b(212)均为InGaAs基APD或者PIN光电二极管。

8.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，所述AD采集a(231)与所述AD采集b(232)采用的均是8位或者以上的AD采样芯片。

9.根据权利要求1所述的一种基于比色法的光纤超高温测温仪，其特征在于，下位机(204)与所述上位机(205)进行通信；其中所述下位机(204)根据采集到的电信号，调整信号预处理器的处理信息，并将该信息反馈给所述下位机(204)的计算程序和所述上位机(205)，用于温度的计算。