[发明专利]一种PCIe芯片链路讯号验证分析检测板和检测系统

权利要求书

1.一种PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，包括：电源接口、电压调整模组、PCIe x16标准插槽、第一上行x8 slimline接口、第二上行x8 slimline接口、第一下行x8 slimline接口和第二下行x8 slimline接口；

所述电源接口的供电端连接所述电压调整模组的输入端；

所述电压调整模组的输出端连接所述PCIe x16标准插槽的供电端；

所述第一上行x8 slimline接口和所述第二上行x8 slimline接口均连接所述PCIex16标准插槽的发送端；

所述第一下行x8 slimline接口和所述第二下行x8 slimline接口均连接所述PCIex16标准插槽的接收端。

2.根据权利要求1所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述电源接口为6针12V外接式电源接口。

3.根据权利要求2所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述电压调整模组包括12V转3.3V的同步降压电路；

所述同步降压电路包括：电感滤波电路、电容滤波电路、同步降压芯片、RC滤波电路和谐振电路；

所述电压调整模组的输入端依次通过所述电感滤波电路和所述电容滤波电路连接所述同步降压芯片的输入端；

所述同步降压芯片的转换端通过所述RC滤波电路接地；

所述同步降压芯片的转换端还通过所述谐振电路连接所述电压调整模组的输出端。

4.根据权利要求3所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述电感滤波电路包括第一电感；

所述电容滤波电路包括第一电解电容、第二电解电容、第一电容、第二电容、第三电容和第四电容；所述第一电解电容、所述第二电解电容、所述第一电容、所述第二电容、所述第三电容和所述第四电容并联连接，构成第一并联电路；所述第一并联电路的一端连接所述同步降压芯片的输入端，其相对的另一端接地；

所述RC滤波电路包括串联连接的第一电阻和第五电容；

所述谐振电路包括第二电感、第二电阻、第六电容、第七电容、第八电容、第九电容、第三电解电容和第四电解电容；所述第二电阻、所述第六电容、所述第七电容、所述第八电容、所述第九电容、所述第三电解电容和所述第四电解电容并联连接构成第二并联电路；所述同步降压芯片的转换端依次通过所述第二电感和所述并联电路的一端连接所述电压调整模组的输出端；所述第二并联电路的相对的另一端接地。

5.根据权利要求4所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述同步降压芯片为MPQ8633BGLE-Z降压芯片。

6.根据权利要求4所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述电压调整模组的输出端分别连接所述PCIe x16标准插槽的A侧第9引脚、A侧第10引脚和B侧第8引脚。

7.根据权利要求1所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述第一上行x8 slimline接口、所述第二上行x8 slimline接口、所述第一下行x8 slimline接口和所述第二下行x8 slimline接口均与所述PCIe x16标准插槽平行设置。

8.根据权利要求7所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述第一上行x8 slimline接口和所述第二上行x8 slimline接口均位于所述PCIe x16标准插槽的一侧；所述第一下行x8 slimline接口和所述第二下行x8 slimline接口均位于所述PCIe x16标准插槽的相对的另一侧。

9.根据权利要求8所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板，其特征在于，所述第一上行x8 slimline接口、所述第二上行x8 slimline接口、所述第一下行x8 slimline接口和所述第二下行x8 slimline接口均与所述PCIe x16标准插槽等间距设置。

10.一种PCIe芯片链路讯号验证分析检测系统，其特征在于，所述系统包括：PCIe协议分析仪和如权利要求1至9任一所述的PCIe芯片链路讯号验证分析检测板；

所述PCIe协议分析仪连接所述PCIe芯片链路讯号验证分析检测板的PCIe x16标准插槽。