[发明专利]显示装置的修补方法

说明书

本发明涉及显示装置的修补方法，即使在发生了不良的情况下也能够适当地使用。修补方法为具备排列为矩阵状的多个无机发光体和在无机发光体的周围设置的绝缘体的显示装置的修补方法，包括下述步骤：检测步骤(S14)，对变得不良的无机发光体即不良无机发光体进行检测；绝缘体除去步骤(S18)，向不良无机发光体的周围的绝缘体照射照射光，在保留不良无机发光体而不将其除去的状态下，将不良无机发光体的周围的绝缘体除去；和无机发光体除去步骤(S20)，将周围的绝缘体被除去了的不良无机发光体除去。

关联申请的交叉引用

本申请主张2019年9月24日申请的日本专利申请编号2019-173422号的优先权，该日本专利申请的全部内容引用在本申请中。

技术领域

本发明涉及显示装置的修补方法。

背景技术

近年来，作为显示元件使用微小尺寸的发光二极管(微LED(micro LED))的显示装置受到关注(例如参见专利文献1(日本特表2017-529557号公报))。多个发光二极管与阵列基板(在专利文献1中为驱动背板)连接，阵列基板具备用于驱动发光二极管的像素电路(在专利文献1中为电子控制电路)。

但是，对于使用发光二极管的显示装置而言，由于发光二极管的尺寸小等理由，使得发光二极管向基板的搭载等制造困难且容易导致发光二极管的不良。在将发生不良的显示装置废弃等不再使用的情况下，成品率低下。因此，要求即使在使用发光二极管的显示装置中发生了不良的情况下也能够适当地使用。

本发明是鉴于上述课题做出的，目的在于提供一种在发生了不良的情况下也能够适当使用的显示装置的修补方法。

发明内容

本发明一方案的显示装置的修补方法为具备排列为矩阵状的多个无机发光体和在所述无机发光体的周围设置的绝缘体的显示装置的修补方法，其包括下述步骤：检测步骤，对变得不良的所述无机发光体即不良无机发光体进行检测；绝缘体除去步骤，向所述不良无机发光体的周围的所述绝缘体照射照射光，在保留所述不良无机发光体而不将其除去的状态下，将所述不良无机发光体的周围的所述绝缘体除去；和无机发光体除去步骤，将周围的所述绝缘体被除去了的所述不良无机发光体除去。

附图说明

图1是示出本实施方式的显示装置的构成例的俯视图。

图2是示出多个像素的俯视图。

图3是示出显示装置的像素电路的构成例的电路图。

图4是示出图1的IV-IV’剖视图。

图5是示出本实施方式的无机发光体的构成例的剖视图。

图6是说明本实施方式的显示装置的修补方法的流程图。

图7是示出向对象部分照射照射光的情况下的例子的示意图。

图8是示出向对象部分照射照射光的情况下的例子的示意图。

图9是说明将不良无机发光体除去的工序的示意图。

图10是示意性示出不良无机发光体被除去后的显示装置的图。

图11是示意性说明搭载替代无机发光体的工序的图。

图12是示意性说明搭载替代无机发光体的工序的图。

图13是示意性说明形成替代绝缘体的工序的图。

图14是示意性说明形成替代导电体的工序的图。

附图标记说明

1 显示装置

50e 对置阳极电极

50f 连接层