[发明专利]一种表面形貌的建模方法、装置、设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202011003198.0 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112002006A 公开(公告)日: 2020-11-27
发明(设计)人: 余卿;尚文键;程方;王寅;张雅丽;张一;邹景武;周东方 申请(专利权)人: 华侨大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00;G06T19/20;G06F3/0484
代理公司: 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所(普通合伙) 35222 代理人: 陈晓思
地址: 361000 *** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 表面 形貌 建模 方法 装置 设备 可读 存储 介质
【说明书】:

发明提供了一种表面形貌的建模方法、装置、设备及可读存储介质,其方法包括:获取图像采集装置采集到的被测物体表面的多张图像;获取多张所述图像的RGB分量值;根据所述RGB分量值,获取所述图像的HSI值;根据所述RGB分量值及HSI值建立所述图像中的三维形貌模型,用于分析所述被测物体的表面状况。旨在通过平面扫面建立表面形貌,以判断物体表面是否存在缺陷。

技术领域

本发明涉及图像处理领域,特别涉及一种表面形貌的建模方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

随着科学技术的快速发展,同时带动了制造业的产业升级。不管是生产制造或科学研究都对检测技术提出了更高的要求。而表面形貌测量是检测技术中经常遇见的问题,比如使用探针测量零部件的是否存在凹凸不平,口腔医学中使用测量器测量牙齿的形状是否正常,集成电路使用共焦测量仪测量电路加工是否存在缺陷。因此,表面检测领域吸引了越来越多科研机构展开研究,其中主要分为接触式和非接触式两种,其中由于非接触式大都使用光学检测的方法,不需要接触被测物表面,对于一些表面材质较软容易被探针划伤的材料应用广泛,因而有很多针对非接触测量的研究成果。

激光共聚焦扫描显微镜的轴向精度很大程度上受到机械微位移平台的限制,其测量范围同样受限于机械微位移平台的行程。由于机械位移台运动速度的限制,激光共聚焦扫描显微镜通常需要极其耗时的轴向扫描过程;另外,共聚焦光路视场范围极小,当测量较大形貌时需要做较长时间的横向扫描。激光共聚焦测扫描显微测量系统的测量效率不高。

有鉴于此,提出本申请。

发明内容

本发明公开了一种表面形貌的建模方法、装置、设备及可读存储介质,旨在通过平面扫面建立表面形貌,以判断物体表面是否存在缺陷。

本发明第一实施例提供了一种表面形貌的建模方法,包括:

获取图像采集装置采集到的被测物体表面的多张图像;

获取多张所述图像的RGB分量值;

根据所述RGB分量值,获取所述图像的HSI值;

根据所述RGB分量值及HSI值建立所述图像中的三维形貌模型,用于分析所述被测物体的表面状况。

优选地,所述根据所述RGB分量值及HSI值建立所述图像中的三维形貌模型具体为:

将所述RGB分量值转换为与波长相关的色调参数H值,

将所述RGB分量值与所述H值线性回归方程转换成轴向高度,进而生成所述被测物体表面的三维形貌模型。

优选地,所述HSI值中的H值通过如下公式获得:

优选地,所述H值与所述轴向高度呈线性变化。

本发明第二实施例提供了一种表面形貌的建模装置,包括:

图像获取模块,用于获取图像采集装置采集到的被测物体表面的多张图像;

RGB分量值获取模块,用于获取多张所述图像的RGB分量值;

HSI值获取模块,用于根据所述RGB分量值,获取所述图像的HSI值;

三维形貌模型建立模块,用于根据所述RGB分量值及HSI值建立所述图像中的三维形貌模型,用于分析所述被测物体的表面状况。

优选地,所述三维形貌模型建立模块具体用于:

将所述RGB分量值转换为与波长相关的色调参数H值,

将所述RGB分量值与所述H值线性回归方程转换成轴向高度,进而生成所述被测物体表面的三维形貌模型。

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