[发明专利]一种存储器中数据块的检测方法及相关设备有效

专利信息
申请号: 202011002456.3 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112083891B 公开(公告)日: 2022-12-06
发明(设计)人: 龙承东 申请(专利权)人: 深圳芯邦科技股份有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 代理人: 李杭
地址: 518000 广东省深圳市坪山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储器 数据 检测 方法 相关 设备
【权利要求书】:

1.一种存储器中数据块的检测方法,其特征在于,包括:

确定存储器中的第一源数据块集合;

将擦除后的所述第一源数据块集合中的每个数据块写满随机数据,得到第二源数据块集合;

将所述第二源数据块集合中每个数据块的数据写入第一数据块集合,得到第二数据块集合,所述第一数据块集合为所述存储器中除所述第一源数据块集合之外的数据块的集合;

对所述第二数据块集合中每个数据块进行数据校验,以确定出所述第二数据块集合中数据校验正确的第三数据块集合;

确定所述第三数据块集合中的第三源数据块集合,所述第三源数据块集合中的数据块数量与所述第一源数据块集合中的数据块数量相同;

将擦除后的所述第三源数据块集合中的每个数据块写满随机数据,得到第四源数据块集合;

将所述第四源数据块集合中每个数据块的数据写入所述第一源数据块集合,得到第五源数据块集合;

对所述第五源数据块集合中的每个数据块进行数据校验,以确定出所述第五源数据块集合中数据校验正确的第四数据块集合。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述存储器中的第一源数据块集合包括:

获取所述存储器中数据块的有效页数M以及所述存储器在SLC模式下的页数N;

根据所述有效页数M以及所述页数N从所述存储器对应的数据块中进行抽取,得到所述第一源数据块集合。

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述有效页数M以及所述页数N从所述存储器对应的数据块中抽取,得到所述第一源数据块集合包括:

通过所述有效页数M与所述页数N的比值确定所述第一源数据块集合中的数据块数量;

基于所述数据块数量从所述存储器对应的数据块中进行抽取,得到所述第一源数据块集合。

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述基于所述数据块数量从所述存储器对应的数据块中进行抽取,得到所述第一源数据块集合包括:

基于所述数据块数量从所述存储器对应的数据块中进行抽取,得到初始数据块集合;

通过数据读写的方式从所述初始数据块集合中确定出错误的数据块;

将所述初始数据块集合中除所述错误的数据块之外的数据块集合确定为所述第一源数据块集合。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

将所述存储器中除所述第三数据块集合以及所述第四数据块集合之外的数据块标记为坏块;

接收针对于所述存储器的目标操作指令;

响应所述目标操作指令,将目标数据写入所述第三数据块集合中的数据块和/或所述第四数据块集合中的数据块,所述目标数据为与所述目标操作指令对应的待写入所述存储器的数据。

6.一种存储器中数据块的检测装置,其特征在于,包括:

确定单元,用于确定存储器中的第一源数据块集合;

写入单元,用于将擦除后的所述第一源数据块集合中的每个数据块写满随机数据,得到第二源数据块集合;

所述写入单元,还用于将所述第二源数据块集合中每个数据块的数据写入第一数据块集合,得到第二数据块集合,所述第一数据块集合为所述存储器中除所述第一源数据块集合之外的数据块的集合;

校验单元,用于对所述第二数据块集合中每个数据块进行数据校验,以确定出所述第二数据块集合中数据校验正确的第三数据块集合;

所述确定单元,还用于确定所述第三数据块集合中的第三源数据块集合,所述第三源数据块集合中的数据块数量与所述第一源数据块集合中的数据块数量相同;

所述写入单元,还用于将擦除后的所述第三源数据块集合中的每个数据块写满随机数据,得到第四源数据块集合;

所述写入单元,用于将所述第四源数据块集合中每个数据块的数据写入所述第一源数据块集合,得到第五源数据块集合;

所述校验单元,用于对所述第五源数据块集合中的每个数据块进行数据校验,以确定出所述第五源数据块集合中数据校验正确的第四数据块集合。

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