[发明专利]一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统和方法在审

专利信息
申请号: 202010999555.7 申请日: 2020-09-22
公开(公告)号: CN112006709A 公开(公告)日: 2020-12-01
发明(设计)人: 谢志华;刘岩;井元庆;郭一;张龙龙 申请(专利权)人: 深圳市安健科技股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 广东前海律师事务所 44323 代理人: 李雪
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 labview 射线 高压发生器 自动化 曝光 测试 系统 方法
【权利要求书】:

1.一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,其特征在于:包括上位机、数据采集装置、X射线高压发生器、总线、总线接口和基于labview软件建立的控制模块;

总线接口设置在总线的两端;

上位机通过总线接口分别与数据采集装置和X射线高压发生器电连接;

X射线高压发生器通过总线接口与数据采集装置电连接;

上位机通过控制模块向数据采集装置和X射线高压发生器输出控制信号;

X射线高压发生器接收控制信号,并根据控制信号产生自动化曝光动作;

总线和总线接口,用于将上位机发出的控制信号传输到数据采集装置和X射线高压发生器,还用于将数据采集装置采集到的测试数据传输到上位机;

上位机通过控制模块对测试数据进行处理和分析得出测试结果,并对测试结果进行存储和显示。

2.根据权利要求1的基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,其特征在于:数据采集装置为示波器。

3.根据权利要求1的基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,其特征在于:总线接口可以为RS-232接口、RS-485接口、RS-422接口等。

4.根据权利要求1-3任一项的基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,其特征在于:控制模块包括

配置模块,用于对X光高压发生器和数据采集装置进行参数配置;

测试模块,用于对X光高压发生器进行曝光测试;

存储模块,用于保存、显示测试数据。

5.根据权利要求4的基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试系统,其特征在于:上位机上装载有Labview软件,控制模块通Labview软件运行。

6.一种基于Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试方法,其特征在于:包括以下步骤

配置模块对X射线高压发生器和数据采集装置发出控制信号;

X射线高压发生器接收到控制信号,并根据控制信号发出曝光动作;

数据采集装置接收控制信号,根据控制信号对数据采集装置进行测量配置,并对X射线高压发生器曝光参数进行测试并采集测试数据;

数据采集装置将采集到的测试数据利用总线和总线接口传输到测试模块;

测试模块对测试数据进行处理和分析得出测试结果;

测试结果传送至储存模块进行储存和显示。

7.根据权利要求6的Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试方法,其特征在于:数据采集装置为示波器。

8.根据权利要求6或7的Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试方法,其特征在于:总线接口可以为RS-232接口、RS-485接口、RS-422接口等。

9.根据权利要求8的Labview的X射线高压发生器自动化曝光测试方法,其特征在于:步骤具体为:

上位机上装载的Labview软件读取曝光参数配置表;

上位机根据配置表对X光高压发生器进行配置,并根据配置表对示波器进行相应测试配置;

X射线高压发生器接收到配置信息发出曝光动作,示波器读取X射线高压发生器的曝光参数,并根据相应的测试配置信息对曝光参数进行测试;

测试数据上传至数据保存表格。

10.据权利要求6、7、9中任一项的X射线高压发生器自动化曝光测试方法,其特征在于:对X射线高压发生器进行测试的内容包括拍片曝光电压精度测试、拍片曝光电流精度测试、拍片曝光电流时间积精度测试、拍片曝光时间精度测试、透视曝光电压精度测试。

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