[发明专利]可转移氧化镓单晶薄膜的制备方法有效
| 申请号: | 202010998919.X | 申请日: | 2020-09-22 |
| 公开(公告)号: | CN112309832B | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
| 发明(设计)人: | 肖洪地;赵冲冲;杨小坤;刘杰 | 申请(专利权)人: | 山东大学 |
| 主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;C30B25/16;C30B25/18;C30B29/16 |
| 代理公司: | 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 | 代理人: | 王楠 |
| 地址: | 250199 山*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 转移 氧化 镓单晶 薄膜 制备 方法 | ||
本发明涉及可转移氧化镓单晶薄膜的制备方法,该方法包括如下步骤:通过电化学刻蚀技术制备纳米多孔GaN薄膜;采用有机金属化学气相沉积技术在纳米多孔GaN薄膜上外延生长氧化镓单晶薄膜;采用PDMS压印技术转移氧化镓单晶薄膜;采用感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术去除GaN层,完成制备。本方法可制备大面积(cm2)、可转移至任何衬底(如:硅、塑料、金属)上的氧化镓单晶薄膜,不仅规避了机械剥离之缺点,而且还规避了氧化镓单晶衬底热导率差、不导电、价格昂贵、难以光电子集成等难题,所制备的薄膜可用于柔性半导体光电器件。
技术领域
本发明涉及可转移氧化镓单晶薄膜的制备方法,属于半导体光电子材料技术领域。
背景技术
氧化镓(Ga2O3)是一种宽禁带半导体材料。与第三代半导体材料的典型代表氮化镓(GaN,禁带宽度:3.4eV;击穿电场:3.5MV/cm)和碳化硅(SiC,禁带宽度:3.4eV)相比,单斜晶系的氧化镓具有更宽禁带宽度(~4.9eV)、更高的击穿电场强度(8MV/cm)和更好的化学和热稳定性,其在场效应晶体管、肖特基势垒二极管、日盲区(200-280nm)光电探测器等方面具有广阔的应用前景,并已取得令人振奋的结果。
半导体材料应用的主要形态结构是薄膜。与单晶薄膜相比,非晶、多晶薄膜具有较大的缺陷密度,这使得薄膜的发光效率、掺杂效率和耐压能力都比较低,很难用于制造高效率的半导体光电器件。作为无机半导体材料,氧化镓单晶薄膜只能生长在刚性衬底上(如:氧化镓、氧化镁、蓝宝石等单晶衬底)。如若克服生长衬底坚硬、无弹性、不易弯曲等缺点,氧化镓基器件势必在可折叠式显示、可植入式生物医学器件等领域具有广阔的应用前景。为此,人们通常利用氧化镓体单晶易于机械剥膜的特点,将剥离后的氧化镓转移至其他衬底上(如:硅、石英),并制成具有良好光电特性的光电器件(参见W.S.Hwang,A.Verma,H.Peelaers,V.Protasenko,S.Rouvimov,H.Xing,A.Seabaugh,W.Haensch.C.Walle,Z.Galazka,M.Albrecht,R.Fornari,D.Jena,High-voltage field transistors withwide-bandgapβ-Ga2O3nanomembranes,Appl.Phys.Lett.2014,104:20311)。然而,机械剥离所获得的氧化镓薄膜具有厚度不可控、面积小(~μm2)且不可控、晶向不可控、电学性质单一等缺点,因此其很难获得广泛应用。
发明内容
针对现有技术的不足,本发明提供一种可转移氧化镓单晶薄膜的制备方法。
本发明的技术方案如下:
一种可转移氧化镓单晶薄膜的制备方法,其制备步骤包括:
步骤1:采用电化学刻蚀技术对生长在蓝宝石衬底上的GaN外延膜进行刻蚀,制备纳米多孔GaN薄膜;
步骤2:在刻蚀后的GaN薄膜上外延生长氧化镓(Ga2O3)单晶薄膜;
步骤3:采用聚二甲基硅氧烷(PDMS)压印技术将具有GaN层的氧化镓单晶薄膜转移至其他衬底上;
步骤4:采用感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术去除GaN层,制备出可转移的氧化镓单晶薄膜,完成制备。
优选的,步骤2为以下两个方案之一:
A、采用后退火技术基本实现多孔GaN薄膜与蓝宝石衬底相分离,然后在GaN薄膜上外延生长氧化镓(Ga2O3)单晶薄膜;
或,
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