[发明专利]一种有缺陷的液晶显示模组获取方法

说明书

本发明公开一种有缺陷的液晶显示模组获取方法，包括以下步骤：将画布颜色设置为画面缺陷的背景颜色一致的颜色；在画布上绘制出缺陷参考外形，并标注缺陷参考中心；将缺陷参考中心的像素点作为像素点1，设置像素点1的灰度值，设置像素点1左上方上的至少一个像素点的灰度值，并以此为第一像素族，设置若干第一像素族；将第一像素族中最大灰度值降低若干级，其它灰度值不变，形成第二像素族，设置若干第二像素族；将第二像素族中最小灰度值降低若干级，其它灰度值不变，形成第三像素族，设置若干第三像素族；重复上述过程，形成缺陷图片。本发明可直接获得缺陷图片，使得限度样品可直接获得及复制，降低限度样品获取和复制的难度。

技术领域

本发明涉及液晶显示模组领域，尤其涉及一种有缺陷的液晶显示模组获取方法。

背景技术

液晶显示模组作为发光显示类器件，由于生产制程的偏差，会造成很多种显示类的缺陷(如灰屏白斑、白屏黄斑等)，此类缺陷会有严重、中等、轻微等程度，在正常使用的过程中，某种程度的缺陷品不会被用户所关注，故此类缺陷品是可以被组装成整机销售给用户的。但由于此类缺陷无法用相应的客观指标衡量，只能进行主观判定，为了相对客观的判定，通常情况下会制定限度样品，将待判定的缺陷品与限度样品进行比对，严重度超过限度样品的缺陷品判定为NG，严重度轻于限度样品的缺陷品则判定为Pass，通过此方法判断缺陷品是否能被组装成整机进行销售。

现有技术中，限度样品的获取途径通常为在产品生产的过程中收集同类的缺陷品，再将缺陷品进行相互比对，从而区分出严重、中等、轻微等等级，并将其中一个等级定义为限度样品，其获取途径导致限度样不易被复制，且在复制的过程中会存在不同程度的差异，从导致限度样品获取及复制的难度较大，降低缺陷品判断过程中的准确度。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的不足，提供一种有缺陷的液晶显示模组获取方法，解决现有技术中，液晶模组的限度样品不易获取及复制的问题。

本发明的技术方案如下：一种有缺陷的液晶显示模组获取方法，包括以下步骤：

S1：根据液晶模组的缺陷画面的背景颜色，将画图板的画布颜色设置为与液晶模组的缺陷画面的背景颜色一致的颜色。

S2：根据液晶模组的缺陷画面的形状，选择形状工具，在所述画布上绘制出缺陷参考外形；使用铅笔工具找出缺陷参考中心，并标注所述缺陷参考中心。

S3：在所述缺陷参考中心，将画布无限放大，在所述缺陷画面内设置若干切分线，所述的切分线经过缺陷参考中心并将所述缺陷参考外形内部区域分为若干份。

S4：将缺陷参考中心的像素点作为像素点1，并设置所述像素点1的灰度值，根据步骤S3中的切分线，沿所述切分线设置所述像素点1左上方或左下方或右上方或右下方上的至少一个像素点的灰度值，并以像素点1和像素点1左上方或左下方或右上方或右下方上的至少一个像素点为第一像素族，并沿所述切分线设置若干个第一像素族。

S5：在第一像素族的基础上，将第一像素族中像素点对应的最大灰度值降低若干级，其它像素点对应的灰度值不变，形成第二像素族，并在步骤S4的基础上沿所述切分线设置若干个第二像素族。

S6：在第二像素族的基础上，将第二像素族中像素点对应的最小灰度值降低若干级，其它像素点对应的灰度值不变，形成第三像素族，并步骤S5的基础上沿所述切分线设置若干个第三像素族。

S7：重复步骤S5～S6，形成第N像素族；所述第N像素族中所有像素点的灰度值均与画布的灰度值一致。

所述第一像素族、第二像素族、第三像素族、…、第N像素族根据缺陷参考外形内部区域面积大小确定，且所述第一像素族、第二像素族、第三像素族、…、第N像素族中像素点的个数相同。