[发明专利]一种基于特征属性的测试策略调整方法及装置在审
| 申请号: | 202010990018.6 | 申请日: | 2020-09-18 |
| 公开(公告)号: | CN112131108A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
| 发明(设计)人: | 闫义;朱玲芳 | 申请(专利权)人: | 电信科学技术第十研究所有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 郭永丽 |
| 地址: | 710061*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 特征 属性 测试 策略 调整 方法 装置 | ||
1.一种基于特征属性的测试策略调整方法,其特征在于,该方法包括:
获取被测系统包括的多个测试子模块,以及其他测试过程中发现的多个缺陷;
获取各所述缺陷的特征属性,所述特征属性包括缺陷所属测试子模块和缺陷等级,并确定各所述测试子模块的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等级值;
根据各所述测试子模块的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等级值,计算各所述测试子模块的测试预测值;
根据各所述测试子模块的测试预测值,对所述被测系统的测试策略进行调整。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述测试子模块的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等级值,计算各所述测试子模块的测试预测值包括:
根据各所述缺陷的特征属性,分别获取各所述测试子模块包括的所有缺陷;
将各所述测试子模块包括的所有缺陷的特征属性代入建立好的缺陷模型中,并根据下述公式计算各所述测试子模块的测试预测值:
其中,Mi为被测系统M中包括的第i个测试子模块,i=1、2、3……N,N为测试子模块的总数量,K为测试子模块Mi中包括的所有缺陷的总数量。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据各所述测试子模块的测试预测值,对所述被测系统的测试策略进行调整包括:
按照各所述测试子模块的测试预测值从高到低的顺序,对所述测试子模块进行排序;
根据排序后的所述测试子模块,对所述被测系统的测试策略进行调整。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷等级包括高缺陷等级、中缺陷等级和低缺陷等级。
5.一种基于特征属性的测试策略调整装置,其特征在于,该装置包括:
第一获取单元,用于获取被测系统包括的多个测试子模块,以及其他测试过程中发现的多个缺陷;
第二获取单元,用于获取各所述缺陷的特征属性,所述特征属性包括缺陷所属测试子模块和缺陷等级,并确定各所述测试子模块的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等级值;
计算单元,用于根据各所述测试子模块的重要性值以及各所述缺陷的缺陷等级值,计算各所述测试子模块的测试预测值;
调整单元,用于根据各所述测试子模块的测试预测值,对所述被测系统的测试策略进行调整。
6.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,根据各所述缺陷的特征属性,分别获取各所述测试子模块包括的所有缺陷;
将各所述测试子模块包括的所有缺陷的特征属性代入建立好的缺陷模型中,并根据下述公式计算各所述测试子模块的测试预测值:
其中,Mi为被测系统M中包括的第i个测试子模块,i=1、2、3……N,N为测试子模块的总数量,K为测试子模块Mi中包括的所有缺陷的总数量。
7.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述调整单元具体用于:
按照各所述测试子模块的测试预测值从高到低的顺序,对所述测试子模块进行排序;
根据排序后的所述测试子模块,对所述被测系统的测试策略进行调整。
8.根据权利要求5所述的装置,其特征在于,所述缺陷等级包括高缺陷等级、中缺陷等级和低缺陷等级。
9.一种计算设备,其特征在于,包括处理器和存储器,其中存储器内存储有执行指令,处理器读取存储器内的执行指令用于执行如权利要求1~4中任一项所述的一种基于特征属性的测试策略调整方法中的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,包含计算机执行指令,所述计算机执行指令被用于执行如权利要求1~4中任一项所述的一种基于特征属性的测试策略调整方法中的步骤。
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