[发明专利]一种电子元器件老化试验装置

权利要求书

1.一种电子元器件老化试验装置，包括底板(1)，其特征在于：所述底板(1)上表面四角均固定连接有支撑柱(2)，所述支撑柱(2)上表面固定连接有承载板(3)，所述承载板(3)上表面右前侧和右后侧均固定连接有滑轨(4)，所述滑轨(4)外表面套接有滑块(5)，所述滑块(5)内侧面固定连接有第一矩形板(6)，所述承载板(3)上表面左侧固定连接有第二矩形板(7)，所述第一矩形板(6)和第二矩形板(7)上表面均设置有固定夹紧装置(8)，所述底板(1)上表面设置有支撑装置(9)，所述底板(1)下表面固定连接有第一支撑块(10)，所述第一支撑块(10)内侧面插接有第一转轴(11)，所述第一转轴(11)外表面套接有移动滚轮(12)，所述底板(1)上表面前后两侧均开设有矩形通孔(13)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件老化试验装置，其特征在于：所述固定夹紧装置(8)包括电动推杆(801)，电动推杆(801)下表面与第二矩形板(7)和第一矩形板(6)上表面固定连接，电动推杆(801)外侧面固定连接有三棱块(802)，第二矩形板(7)上表面前后两侧均固定连接有第二支撑块(803)，第二支撑块(803)内侧面插接有第二转轴(804)，第二转轴(804)外表面套接有传动块(805)，传动块(805)内侧面开设有圆形滑槽(806)，电动推杆(801)输出端插接有传动轴(807)，传动块(805)下表面内侧固定连接有卡块(808)。

3.根据权利要求1所述的一种电子元器件老化试验装置，其特征在于：所述支撑装置(9)包括第一固定块(901)，第一固定块(901)内侧面插接有第一圆轴(902)，第一圆轴(902)外表面套接有第一锥齿轮(903)，底板(1)上表面转动连接有第二圆轴(904)，第二圆轴(904)上表面固定连接有第二锥齿轮(905)，第一锥齿轮(903)与第二锥齿轮(905)啮合，第二圆轴(904)外表面套接有蜗杆(906)，底板(1)上表面前后两侧均固定连接有第二固定块(907)，第二固定块(907)内侧面插有第三圆轴(908)，第三圆轴(908)外表面套接有传动杆(909)，传动杆(909)内侧面外侧插接有固定轴(910)，固定轴(910)外表面套接有底座(911)，第一圆轴(902)正面固定连接有转盘(912)，第三圆轴(908)外表面套接有蜗轮(913)，蜗杆(906)与蜗轮(913)啮合。

4.根据权利要求3所述的一种电子元器件老化试验装置，其特征在于：所述第二固定块(907)内侧面开设有圆形通孔，且圆形通孔内部设置有滚珠，且圆形通孔与滚珠形成的形状与第三圆轴(908)相适配。

5.根据权利要求3所述的一种电子元器件老化试验装置，其特征在于：所述底座(911)的宽度小于矩形通孔(13)的宽度，且矩形通孔(13)的宽度为十二毫米。

6.根据权利要求2所述的一种电子元器件老化试验装置，其特征在于：所述圆形滑槽(806)的宽度与传动轴(807)的内径相适配，且传动轴(807)的材质为不锈钢。

7.根据权利要求2所述的一种电子元器件老化试验装置，其特征在于：所述三棱块(802)的数量为四组，位于左侧的三棱块(802)下表面与第二矩形板(7)上表面焊接，位于右侧的三棱块(802)下表面与第一矩形板(6)上表面焊接。