[发明专利]一种液晶模组测试装置以及系统

权利要求书

1.一种液晶模组测试装置，其特征在于，所述液晶模组测试装置包括：

上料组件，用于将待测试液晶模组传输到测试组件上；

所述测试组件，包括测试机构以及驱动机构，所述测试机构用于对液晶模组进行通电测试，所述驱动机构用于驱动所述液晶模组从上料位移动到下料位；

下料组件，用于将完成测试的所述液晶模组从所述测试组件上取下；以及控制组件，所述控制组件与所述上料组件、所述测试组件以及所述下料组件电连接，用于所述上料组件、所述测试组件以及所述下料组件的工作控制。

2.根据权利要求1所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述测试组件设置有若干套，若干套所述测试组件并排或者环形布置，且若干套所述测试组件共用一套所述上料组件、一套所述下料组件。

3.根据权利要求1所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述测试机构包括若干治具，所述治具上设置有夹紧机构以及对接机构；

所述夹紧机构用于对放置于所述治具上的所述液晶模组的夹紧定位；

所述对接机构用于与所述液晶模组的对接。

4.根据权利要求3所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述测试机构还包括供电滑轨，所述供电滑轨能够与所述治具滑动连接，所述供电滑轨包括导向滑槽以及导电滑槽；

所述导向滑槽与所述治具上设置的滑块配合，用于所述治具移动时的导向；

所述导电滑槽包括正极滑槽以及负极滑槽，所述正极滑槽与所述治具上的正极导电块配合，所述负极滑槽与所述治具上的负极导电块配合。

5.根据权利要求4所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述治具与所述供电滑槽可以相互分离或者嵌合，所述治具与所述供电滑槽嵌合时所述供电滑槽与所述治具上的导电插针电连接。

6.根据权利要求5所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述供电滑槽上设置有第一磁铁和第二磁铁，所述治具上设置有第三磁铁；

所述第一磁铁与所述第二磁铁磁性相反，所述第一磁铁呈条状，位于所述供电滑槽与所述治具的配合区，所述第二磁铁呈块状，位于所述供电滑槽的末端；

所述第三磁铁与所述第一磁铁磁性相反，在所述第一磁铁与所述第三磁铁的作用下，所述治具与所述供电滑槽嵌合；在所述第三磁铁与所述第二磁铁的作用下，所述治具与所述供电滑槽分离。

7.根据权利要求5所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述驱动机构包括转动带；

所述转动带呈环形设置，通过电机驱动旋转；所述转动带上等距离设置有若干驱动杆，所述驱动杆与所述治具上的对接孔配合，当所述治具与所述供电滑槽嵌合时，所述驱动杆与所述对接孔分离；当所述治具与所述供电滑槽分离时，所述驱动杆插入所述对接孔中；

所述驱动机构通过旋转将位于所述供电滑槽末端的所述治具输送到所述供电滑槽的前端、将与所述供电滑槽嵌合的所述治具沿所述供电滑槽的滑动方向推动。

8.根据权利要求1所述的液晶模组测试装置，其特征在于，所述测试组件还包括图像采集装置，所述图像采集装置用于对通电后的所述液晶模组进行图像采集，并将采集到的图像输送给所述控制组件；

所述控制组件还用于对所述采集装置传输到的图像进行识别以判断相应的液晶模组是否合格。

9.一种液晶模组测试系统，其特征在于，所述液晶模组测试系统包括：

如权利要求1-8任意一项所述的液晶模组测试装置；以及上下料系统，所述上下料系统与所述上料组件以及所述下料组件配合，用于所述液晶模组测试装置的供料以及完成测试后的液晶模组的输送。

10.根据权利要求9所述的液晶模组测试系统，其特征在于，所述上下料系统包括进料皮带、出料皮带以及次品皮带；

所述进料皮带与所述上料组件配合，用于所述液晶模组测试装置；

所述出料皮带以及所述次品皮带与所述下料组件配合，分别用于输送合格的液晶模组以及不合格的液晶模组；

所述进料皮带、所述出料皮带以及次皮带的到料端均设置有到料传感器。