[发明专利]一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法，所述T/R自动测试系统校准套件包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块，所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头，通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。本发明可很大程度的提升T/R阵列自动测试系统的校准精度和校准效率，可满足在大规模T/R阵列自动测试系统中的校准要求。此外，区别于目前矢量网络分析仪厂商提供的高精密校准工具箱，对加工工艺有极大要求，本发明所需标准件的加工工艺能满足一般的工程化实现。

技术领域

本发明涉及自动测试技术领域，尤其涉及一种T/R阵列自动测试系统校准套件、测试系统及测试方法。

背景技术

T/R 组件是构成相控阵雷达的基础，是相控阵雷达的核心部件。随着雷达技术的发展，T/R组件呈现出多通道、高频段、高性能的特点，为满足相应的测试需求，多通道、多组件、高精度T/R阵列自动测试系统的研制显得愈发重要。在多通道、多组件的T/R阵列测试系统中，需要对每一个通道都执行SOLT校准，大量的重复性校准过程导致校准效率低下，同时容易引入重复性误差和造成校准件的严重磨损，导致系统的校准精度下降。因此，如何提高T/R阵列校准的精度与效率，是一个亟需解决的技术问题。

发明内容

为了解决上述问题，本发明的第一方面，提供了一种T/R阵列自动测试系统校准套件，所述T/R自动测试系统校准套件包含套件箱体以及设置于箱体内的一个和/或多个校准模块，所述校准模块包括设置于印制板的直通标准件T、延迟线标准件L、第一反射标准件R、第二反射标准件R’以及设置于套件箱体上连接每个标准件两端的射频接头，通过T/R测试系统连接每个标准件两端的射频接头对标准模块进行测试。

所述多个校准模块中的相邻校准模块通过支架进行物理连接；

所述校准件两端的射频接头采用2.92mm的SMP接头，便于测试拔插；

所述标准模块中的印制板采用Rogress4350板材；

所述校准模块中各个标准件之间采用金属隔条分割，防止校准信号的耦合和串扰；

本发明的第二方面，提供了一种T/R阵列自动测试系统，所述的T/R阵列自动测试系统，包括嵌入网络A、嵌入网络B、矢量网络分析仪和处理终端，其中：

所述T/R阵列自动测试系统校准套件的射频接头分别连接嵌入网络A和嵌入网络B的一端；

所述矢量网络分析仪连接嵌入网络A和嵌入网络B的另一端；

所述处理终端连接矢量网络，通过控制射频信号输入与输出实现嵌入网络A和嵌入网络B的误差提取。

本发明的第三方面，提供了一种T/R阵列自动测试方法，所述T/R阵列自动测试方法，包括如下步骤：

自校准：在校准工具套件之前，先对T/R阵列自动测试系统中的矢量网络分析仪进行SOLT自校准；

校准模式选择：根据是否远控T/R阵列自动测试系统中的矢量网络分析仪，选择离线校准模式或在线校准模式；

嵌入网络误差提取：通过控制射频信号输入与输出实现对嵌入微波测试网络中的误差的提取；

计算待测件真实指标：通过从测试结果中扣除嵌入成分，获得待测件的真实指标。

本发明的有益效果在于：通过采用所设计的校准套件，使T/R阵列自动测试系统的校准幅度误差小于0.2dB，驻波比误差小于0.1,相位误差小于3°，校准时间缩短为目前采用的SOLT校准方式的四分之一。极大提升了T/R阵列自动测试系统的校准精度和校准效率，且随着阵列规模的增加，提升校准效率呈线性增加。