[发明专利]一种针对QFN的开尔文测试插座在审
| 申请号： | 202010964476.2 | 申请日： | 2020-09-15 |
| 公开（公告）号： | CN112083315A | 公开（公告）日： | 2020-12-15 |
| 发明（设计）人： | 殷岚勇;杨菊芬 | 申请（专利权）人： | 苏州韬盛电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京华际知识产权代理有限公司 11676 | 代理人： | 范登峰 |
| 地址： | 215000 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 针对 qfn 开尔文 测试 插座 | ||
【权利要求书】：
1.一种针对QFN的开尔文测试插座，包括插座主体(1)，其特征在于：所述插座主体(1)的底端设置有芯片测试腔(2)，所述芯片测试腔(2)的顶端设置有测试板(3)，所述测试板(3)的顶端设置有被测试芯片(4)，所述被测试芯片(4)与测试板(3)之间设有导电胶带(5)，所述导电胶带(5)的上下两侧均设有弹片(6)，所述插座主体(1)的顶端设有底部盖板(7)。
2.根据权利要求1所述的一种针对QFN的开尔文测试插座，其特征在于：所述弹片(6)的材质为铜金属制成，且弹片(6)的厚度不大于0.1MM。
3.根据权利要求1所述的一种针对QFN的开尔文测试插座，其特征在于：所述弹片(6)的表面冲压形成若干弹性凸片(61)，且弹性凸片(61)呈矩形阵列的形式分布在弹片(6)的表面。
4.根据权利要求1所述的一种针对QFN的开尔文测试插座，其特征在于：两个所述弹片(6)的弹性凸片(61)分别与测试板(3)和被测试芯片(4)接触，且弹性凸片(61)的形状呈弧形设置。
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