[发明专利]手性溶液的探测装置及探测系统在审

专利信息
申请号: 202010963684.0 申请日: 2020-09-14
公开(公告)号: CN112082955A 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 不公告发明人 申请(专利权)人: 中山科立特光电科技有限公司
主分类号: G01N21/19 分类号: G01N21/19;G01N21/21
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 528458 广东省中山市中山火炬开发区中心城区港*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 手性 溶液 探测 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述探测装置包括:基底层、第一介质盘、第二介质盘和介质柱;所述介质柱的两端分别设置有所述第一介质盘和第二介质盘,且所述第一介质盘和所述第二介质盘相互平行,所述基底层设置在所述第一介质盘远离所述第二介质盘的一侧,所述第一介质盘、所述第二介质盘和所述介质柱均为对称形状,且对称轴在同一条直线上。

2.根据权利要求1所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述第一介质盘、所述第二介质盘和所述介质柱的形状为圆柱。

3.根据权利要求2所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述第一介质盘和第二介质盘的半径相同。

4.根据权利要求3所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述介质柱的半径小于第一介质盘和第二介质盘的半径。

5.根据权利要求4所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述第一介质盘、第二介质盘、介质柱的材料为高折射率材料。

6.根据权利要求5所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述第一介质盘、第二介质盘、介质柱的材料为硅。

7.根据权利要求6所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述第一介质盘的厚度和第二介质盘的厚度相同,且为20nm-100nm。

8.根据权利要求7所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述介质柱的高度为40nm-60nm。

9.根据权利要求2所述的一种手性溶液的探测装置,其特征在于,所述第一介质盘和第二介质盘的半径不同。

10.一种手性溶液的探测系统,其特征在于,所述探测系统包括:电场检测装置、磁场检测装置和权利要求1-9任意一项所述的探测装置,所述电场检测装置用于检测所述基底层、所述第一介质盘和所述第二介质盘上的电偶极子的方向,所述磁场检测装置用于检测所述基底层、所述第一介质盘和所述第二介质盘上的磁偶极子的方向。

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