[发明专利]一种伪差分结构低噪声高线性跨阻放大器电路及芯片有效

专利信息
申请号: 202010961532.7 申请日: 2020-09-14
公开(公告)号: CN112073012B 公开(公告)日: 2022-11-22
发明(设计)人: 陈莹梅;李林;王蓉 申请(专利权)人: 东南大学;网络通信与安全紫金山实验室
主分类号: H03F3/45 分类号: H03F3/45;H03F1/26
代理公司: 南京众联专利代理有限公司 32206 代理人: 薛雨妍
地址: 210096 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 伪差分 结构 噪声 线性 放大器 电路 芯片
【权利要求书】:

1.一种伪差分结构低噪声高线性跨阻放大器电路,其特征在于:包括四只NPN双极型晶体管Q1、Q2、Q3、Q4,三只MOS管M1、M2、M3,六只电阻RS、RC、RF、RS1、RC1、RF1,四只电感L、LOUT、L1、LOUT1和一只光电二极管PD;所述的晶体管Q1的基极接来自光电二极管PD输入电流Iin,集电极通过电阻RS和电感L串联与电源电压VDD连接,发射极通过电阻RC与地GND连接;所述的晶体管Q2基极接Q1的集电极,集电极直接与电源VDD连接,发射极与MOS管M2电流镜连接,提供电流偏置;反馈电阻RF跨接在晶体管Q1的基极和晶体管Q2的发射极,构成电压-电流负反馈;电压信号VOUTP从晶体管Q2的发射极串联电感LOUT输出;所述的晶体管Q3的基极无信号输入接反馈电阻RF1,集电极通过电阻RS1和电感L1串联与电源电压VDD连接,发射极通过电阻RC1与地GND连接;所述的晶体管Q4的基极接晶体管Q3的集电极,集电极直接与电源VDD连接,发射极与MOS管M3电流镜连接,提供电流偏置;反馈电阻RF1跨接在Q3的基极和Q4的发射极,构成电压-电压负反馈;电压信号VOUTN从Q4的发射极串联电感LOUT1输出;所述的Q1和Q3的发射极相连,构成伪差分结构。

2.根据权利要求1所述的伪差分结构低噪声高线性跨阻放大器电路,其特征在于:所述反馈电阻RF的阻值满足Butterworth响应:

其中,A为开环增益;Ctot=CPD+CIN,CPD为光电二极管的寄生电容,CIN为跨阻放大器的输入寄生电容;ω3dB为环路的3dB带宽。

3.根据权利要求1所述的伪差分结构低噪声高线性跨阻放大器电路,其特征在于:所述电感L和电感L1为开环并联峰化电感,可提供一个零点来提高开环带宽。

4.根据权利要求1所述的伪差分结构低噪声高线性跨阻放大器电路,其特征在于,所述电感LOUT和电感LOUT1为串联峰化电感,该电感在满足系统仍然符合Butterwourh响应时,最大可允许扩展倍的带宽。

5.一种线性伪差分结构跨阻放大器芯片,其特征在于:包括如权利要求1-4中任意一项所述的伪差分结构低噪声高线性跨阻放大器电路。

6.根据权利要求5所述的线性伪差分结构跨阻放大器芯片,其特征在于:该芯片采用BiCMOS工艺实现。

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