[发明专利]一种引线元器件通用测试装置

说明书

本发明的一个实施例公开了一种引线元器件通用测试装置，包括：底架，所述底架包括：载板，所述载板包括：用于放置元器件的限位槽；压边板，所述压边板用于对放置于所述底架上的元器件进行固定；所述限位槽底部包括贯穿载板底部的引线过孔，将元器件引线朝下穿过所述引线过孔并放入所述限位槽内，所述引线过孔和限位槽的双重作用，用于限制元器件向四周运动，防止元器件引线承受外力。

技术领域

本发明涉及元器件生产领域，具体的，涉及一种引线元器件通用测试装置。

背景技术

元器件在生产完成后，还需要进行一系列的电性能测试和可靠性试验。电性能试验时，需要将产品逐个放到测试仪器上进行测试。电性能测试合格的产品会放回流转载盘继续进行其他试验。当前引线元器件的流转载盘是纸质托盘，托盘为盒形结构，盒的边沿高度大于引线的长度，盒上的上表面打孔，过孔直径与元器件引线直径相当，过孔用于插元器件的引线。

现有技术在使用时将元器件引线插入对应的过孔内，以此将引线元器件固定。由于元器件引线都比较细和软，引线容易因各种外力作用而发生弯曲，这样引线末端的实际间距就会与设计间距有较大偏差，而托盘上孔的间距与元器件引线设计间距相同，因而在元器件插入及拔出托盘的操作中，极易使引线根部受到外力冲击而损伤根部的密封绝缘子。另外，托盘上的孔尺寸较小，靠目测将元器件引线插入孔内需要一定的时间，对工人的视力和手的稳定度等身体条件的要求也较高。再者，经过长期使用的托盘，其上的孔会变大，当发生倾斜时，元器件容易从托盘上滑落。高温或者低温储存试验和温度冲击等试验的时间很长，温箱内的清洁度较低，元器件在经过这些试验后，表面上会有很多脏污。而且经过高温后，纸质托盘的寿命很短。故使用当前元器件托盘进行测试和试验，存在容易损伤元器件产品，工作效率低，对操作人员要求高和产品表面容易污染等问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种引线元器件通用测试装置，以解决如何固定元器件和现有引线元器件在进行测试和试验时存在的易损伤元器件，工作效率低的问题。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明提供一种引线元器件通用测试装置，包括:

底架，所述底架包括：载板，所述载板包括：用于放置元器件的限位槽；

压边板，所述压边板用于对放置于所述底架上的元器件进行固定；

所述限位槽底部包括贯穿载板底部的引线过孔，将元器件引线朝下穿过所述引线过孔、并放入所述限位槽内，所述引线过孔和限位槽的双重作用，用于限制元器件向四周运动，防止元器件引线承受外力。

在一个具体实施例中，所述装置还包括：防尘罩；

所述压边板包括：第一壳罩限位槽、压边孔和定位孔，

所述第一壳罩限位槽用于保证所述防尘罩在使用中不滑动；

所述压边孔的宽度大于元器件壳罩的宽度，小于元器件边沿的宽度，所述压边板的下表面压在元器件的边沿上，用于将元器件固定。

在一个具体实施例中，

所述防尘罩扣在所述压边板上，用于保护测试装置内所有元器件免受污染；

在一个具体实施例中，所述压边孔为同时压一排元器件的通孔或者只压单个元器件的独立孔。

在一个具体实施例中，所述载板还包括：第二壳罩限位槽和定位销，所述第二壳罩限位槽用于保证所述防尘罩在使用中不滑动，所述定位销，用于与所述定位孔配合，保证所述压边孔的边缘准确地压在元器件的边沿上，并对所述压边板进行限位。

在一个具体实施例中，所述防尘罩相对边侧壁部包括：侧面凸起限位边，所述限位边插入到所述第二壳罩限位槽和所述第一壳罩限位槽内限制其发生平移运动，所述防尘罩还包括：锁扣搭接环。