[发明专利]电池片切片或串焊性能衰减的监控方法在审
| 申请号： | 202010955128.9 | 申请日： | 2020-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN112103215A | 公开（公告）日： | 2020-12-18 |
| 发明（设计）人： | 陈红;李森;冯志强 | 申请（专利权）人： | 天合光能股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67;H01L21/677;H01L31/18 |
| 代理公司： | 浙江永鼎律师事务所 33233 | 代理人： | 郭小丽 |
| 地址： | 213031 江苏省常*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电池 切片 性能 衰减 监控 方法 | ||
1.一种电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，在电池划片前后对性能测试监控。
2.一种电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，在电池串焊前后性能测试监控。
3.一种电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，在电池片划片后对分片性能测试，并进行分选，分选后的分片根据性能测试的数据范围进行分组并进行组件串焊，组件串焊后对组件进行性能测试。
4.根据权利要求1-3任意一项所述的电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，所述的性能测试包括IV测试、IR测试、EL测试和PL测试中的一种或几种。
5.根据权利要求1-3任意一项所述的电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，所述的性能测试包括IV测试和EL测试。
6.根据权利要求5任意一项所述的电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，电池片划片后进行IV测试，先根据IV测试的数据范围分成若干大组，再对每个大组中进行EL测试，再根据每个大组中的EL测试数据范围将每个大组中的分片分成若干小组，每个小组中的分片进行组件串焊，之后再进行性能测试。
7.根据权利要求5任意一项所述的电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，电池片划片后进行IV测试，先根据IV测试的数据范围分成若干大组，再对每个若干大组中进行EL测试，再根据每个大组中的EL测试数据范围将每个大组中的分片分成若干小组，每个小组中的分片进行组件串焊，之后再进行IV测试，根据IV测试数据范围将串焊后组件分成若干大组，再对每个大组中的组件进行EL测试，再根据每个大组中的EL测试数据范围将每个大组中的组件分成若干小组，再对每个小组进行组件制备。
8.根据权利要求1或3所述的电池片切片或串焊性能衰减的监控方法，其特征在于，所述的电池片划片为1/2划片、1/3划片或更小的划片。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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