[发明专利]一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置

说明书

本发明公开了一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置，属于电子产品测试技术领域。电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：基座；安装座，滑动安装在基座上，安装座上设有安装腔体；测试输出对接座，连接在基座上，测试输出对接座上设有输出对接插头；伸缩机构一，一端连接在基座上，另一端与安装座连接；测试输入对接座，正对测试输出对接座安装在基座上且位于安装座的一侧，测试输入对接座上正对输入端设有测试输入对接插头，且测试输入对接插头与信号源电连接；伸缩机构二，一端连接在安装座上，另一端与测试输入对接座连接。本发明的电子组件老化测试座便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率。

技术领域

本发明涉及电子产品测试技术领域，尤其涉及一种电子组件老化测试座及含有其的老化测试装置。

背景技术

老化测试可以提高TR组件的可靠性，在老化过程中让TR组件进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免TR组件在使用早期发生故障；目前，在TR组件老化测试前，需要测试人员将TR组件安装到老化测试架上，再通过测试人员将TR组件与老化测试仪器连接，再通电进行老化测试；但现有的老化测试架上设有的老化测试座一般固定，不便于将TR组件安装到老化测试座上；再者，在现有的老化测试架上将TR组件与老化测试仪器连接，需要逐一将老化测试仪器与TR组件的输入端和输出端进行连接，操作繁琐且效率低。另外，现有技术中对其它与TR组件类似的电子组件在安装到老化测试架上时也存在上述问题。由此，亟需一种便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率的老化测试座。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的至少一个不足，提供一种便于安装电子组件，且提高电子组件与老化测试仪器连接的效率的电子组件老化测试座；另外，还提供一种电子组件老化测试装置。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下：一种电子组件老化测试座，所述电子组件具有输入端和输出端，电子组件老化测试座包括：

基座；

安装座，滑动安装在所述基座上，所述安装座上设有用于安装所述电子组件的安装腔体；

测试输出对接座，垂直于所述安装座的滑动方向连接在所述基座上，所述测试输出对接座上正对所述输出端设有可与所述输出端对接的输出对接插头，且所述输出对接插头与用于接收老化测试数据的老化测试仪器电连接；

伸缩机构一，一端连接在所述基座上，另一端与所述安装座连接，所述伸缩机构一伸缩可带动所述安装座靠近或远离所述测试输出对接座移动并使所述输出端与所述输出对接插头适配对接或脱离；

测试输入对接座，正对所述测试输出对接座安装在所述基座上且位于所述安装座的一侧，所述测试输入对接座上正对所述输入端设有可与所述输入端对接的测试输入对接插头，且所述测试输入对接插头与用于输入测试信号的信号源电连接；

伸缩机构二，一端连接在所述安装座上，另一端与所述测试输入对接座连接，所述伸缩机构二伸缩可带动所述测试输入对接座靠近或远离所述安装座移动并使所述测试输入对接插头与所述输入端适配对接或脱离。