[发明专利]烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质

说明书

本申请公开了一种烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括：选取标样，确定能够识别有机显微组分的有机质测量点；针对有机质测量点进行拉曼光谱分析，计算有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值；重新确定能够识别不同有机显微组分的有机质测量点，针对每个有机质测量点重复上述步骤，计算每一个有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值；根据横坐标差值，建立有机显微组分识别图版。本发明通过拉曼光谱方法进行识别，不受人为因素的影响，并且对有机质的大小和形态没有要求，具有快速准确的优点。

技术领域

本发明涉及石油地质领域，更具体地，涉及一种烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

烃源岩中的有机显微组分是油气生成的物质基础，其类型和组成决定了烃源岩的品质和生烃潜力，是评价常规和非常规油气资源潜力的关键地质参数。

拉曼光谱分析技术是近年来迅速发展起来的一种分子光谱原位分析技术，是分析物质化学结构信息的有力工具，已被广泛应用于材料学和地质学的许多领域。由于拉曼光谱对碳材料的结构有序状态非常敏感，可以为结构的有序性程度提供非常可靠的信息，因此被广泛用来表征石墨等碳质材料的结构特征。烃源岩中的有机显微组分作为一种非晶态固体，与石墨相似，具有微晶层片状结构，但结构不像石墨那样完全有规则的排列，其类型主要取决于内部碳物质的分子结构。鉴于拉曼光谱能反映碳物质结构的有序程度，并且能够指示碳物质中存在的结构缺陷，因此可从分子水平上研究认识烃源岩中有机显微组分的结构。这为利用拉曼光谱快速准确的识别有机显微组分提供了可能，但目前尚无相关研究报道。

现有的有机显微组分识别技术主要是将岩石样品制成光片，置于反光显微镜下，通过人工测试根据反射光特征识别不同的有机显微组分，是石油和地质行业的常规方法。但该类方法受人为因素影响较大，不同的测试者往往因其对有机显微组分的结构、形态、颜色的辨别能力不完全相同，对有机显微组分分析的结果也有所差异，并且对于结构保存不完整的有机显微组分，往往难于通过形态辨认其类型。

因此，有必要开发一种利用拉曼光谱的烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质。

公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。

发明内容

本发明提出了一种烃源岩有机显微组分识别方法、装置、电子设备及介质，其能够通过拉曼光谱方法进行识别，不受人为因素的影响，并且对有机质的大小和形态没有要求，具有快速准确的优点。

第一方面，本公开实施例提供了一种烃源岩有机显微组分识别方法，包括：

选取标样，确定能够识别有机显微组分的有机质测量点；

针对所述有机质测量点进行拉曼光谱分析，计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值；

重新确定能够识别不同有机显微组分的有机质测量点，针对每个有机质测量点重复上述步骤，计算每一个有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值；

根据所述横坐标差值，建立有机显微组分识别图版。

优选地，针对所述有机质测量点进行拉曼光谱分析，计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值包括：

针对所述有机质测量点进行拉曼光谱分析，获得原始拉曼光谱图；

扣除所述原始拉曼光谱图的背景，获得去背景拉曼光谱图；

针对所述去背景拉曼光谱图中的D峰、G峰分别进行拟合，获得D峰和G峰的拟合曲线图；

计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值。

优选地，通过公式(1)计算所述有机质测量点对应的D峰与G峰的横坐标差值：