[发明专利]通过SDIO接口调试外挂芯片的方法、装置、设备和介质

权利要求书

1.一种通过SDIO接口调试外挂芯片的方法，其特征在于，所述外挂芯片中预先配置有可供SDIO接口访问的信号映射寄存器，所述信号映射寄存器配置为映射所述外挂芯片集成的调试访问接口对应的信号，所述方法包括：

初始化SDIO接口；

通过所述SDIO接口对所述外挂芯片进行配置，以使能所述信号映射寄存器与所述调试访问接口之间建立数据流向关系；

按照所述调试访问接口对应的数据协议，通过所述SDIO接口向所述信号映射寄存器发送调试指令；

所述外挂芯片中配置有总线寄存器；

所述总线寄存器中配置有使所述信号映射寄存器与DAP口之间建立数据流向关系的使能位。

2.根据权利要求1所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的方法，其特征在于，在初始化SDIO接口之后，所述方法还包括：

将所述SDIO接口的速度模式设置为低速模式。

3.根据权利要求1所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的方法，其特征在于，所述外挂芯片为ARM芯片，所述调试访问接口为SWD接口。

4.根据权利要求3所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的方法，其特征在于，所述信号映射寄存器用于映射所述调试访问接口对应的时钟信号和数据信号。

5.根据权利要求1所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的方法，其特征在于，在初始化SDIO接口之前，所述方法还包括：检测所述外挂芯片是否异常，当异常时，初始化SDIO接口。

6.一种通过SDIO接口调试外挂芯片的装置，其特征在于，所述外挂芯片中预先配置有可供SDIO接口访问的信号映射寄存器，所述信号映射寄存器用于映射所述外挂芯片集成的调试访问接口对应的信号，所述装置包括：

初始化模块，用于初始化SDIO接口；

配置模块，用于通过所述SDIO接口对所述外挂芯片进行配置，以使能所述信号映射寄存器与所述调试访问接口之间建立数据流向关系；

调试模块，用于按照所述调试访问接口对应的数据协议，通过所述SDIO接口向所述信号映射寄存器发送调试指令；

所述外挂芯片中配置有总线寄存器；

所述总线寄存器中配置有使所述信号映射寄存器与DAP口之间建立数据流向关系的使能位。

7.根据权利要求6所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的装置，其特征在于，所述装置还包括：降速模块，用于在初始化SDIO接口之后，将所述SDIO接口的速度模式设置为低速模式。

8.根据权利要求6所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的装置，其特征在于，所述外挂芯片为ARM芯片，所述调试访问接口为SWD接口。

9.根据权利要求8所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的装置，其特征在于，所述信号映射寄存器用于映射所述调试访问接口对应的时钟信号和数据信号。

10.根据权利要求6所述的通过SDIO接口调试外挂芯片的装置，其特征在于，所述装置还包括：异常检测模块，用于在初始化SDIO接口之前，检测所述外挂芯片是否异常，当异常时，调用所述初始化模块。

11.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。

12.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述方法的步骤。