[发明专利]一种基于光信息三维空间测量方法

权利要求书

1.一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、收集三维空间信息，所述三维空间信息包含待观测物之高度资讯、平面坐标资讯及表面曲率资讯；

S2、收集参考基准光资讯讯息，所述参考基准光资讯讯息为收集待观测物存在之空间位置内，不同高度下放置参考板，并测量间隔不同高度下参考板之基准光资讯讯息，以作为一参考数值；所述参考基准光资讯讯息中，间隔不同高度下参考板之高光谱资讯，以数值分析方法绘制出间隔不同高度下参考板之高光谱资讯之趋势线，以该趋势线作为依据建构待观测物存在之空间位置中不同高度下参考基准光资讯讯息；

S3、收集待观测物光资讯讯息，所述待观测物光资讯讯息为实际测量待观测物之光资讯实测数值；

S4、运算三维空间信息校正光资讯讯息，将三维空间信息、参考基准光资讯讯息及待观测物光资讯讯息导入运算三维空间信息校正光资讯讯息，将三维空间信息结合待观测物光资讯讯息，并利用参考基准光资讯讯息运算出三维空间坐标上的实际测量待观测物的校正光资讯讯息。

2.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，所述三维空间信息是利用三维扫描仪收集其三维空间信息，该三维扫描仪为接触式扫描仪、非接触式主动扫描仪及非接触式被动扫描仪中任意一种。

3.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，所述参考基准光资讯讯息中，该参考板为白板、黑板及其他色板中任意一种。

4.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，所述待观测物光资讯讯息中，该光资讯讯息包括至少一影像、波长范围、强度资讯及时间资讯。

5.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，所述待观测物光资讯讯息中，是使用光传感器测量待观测物，该光传感器以大量的不同波段的电磁频谱来测量待观测物。

6.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，步骤S1、S2、S3中可置换顺序或同时执行，以缩短测量时间。

7.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，所述运算三维空间信息校正光资讯讯息包含至少一高度坐标结合校正光资讯影像、高度坐标结合校正光资讯波长范围和高度坐标结合校正高光资讯强度资讯。

8.如权利要求1所述的一种基于光信息三维空间测量方法，其特征在于，所述运算三维空间信息校正光资讯讯息包含至少一平面坐标结合校正光资讯影像、平面坐标结合校正光资讯波长范围和平面坐标结合校正光资讯强度资讯。