[发明专利]一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台

说明书

一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台，包括由辅助静环座、密封腔体外壳、静环座组成的密封腔，密封腔设置在基座上，密封腔内设有位于密封腔上部的实验密封和位于密封腔下部的辅助密封，实验密封包括动环、静环和静环座，动环的内圆周通过螺钉安装有一块金属测试板，静环座内安装有电涡流传感器，电涡流传感器的测试端垂直并靠近金属测试板的上表面，电涡流传感器测量金属测试板的轴向位移得到端面膜厚变化；静环座的顶面设有荷重传感器、螺旋测微头和千分表，螺旋测微头以调整静环的初始位置，千分表以复核静环的初始位置。本发明通过螺旋测微头调节静环的初始位置，可以实现不同初始端面膜压条件下的实验，扩大了试验台的应用范围。

技术领域

本发明涉及机械密封性能测试装置，尤其涉及一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台。

背景技术

因具有良好的密封效果，机械密封被应用于多种场合，测试机械密封性能参数是研究机械密封动力学特性，指导机械密封设计的重要方法。机械密封试验台是测试和研究机械密封性能的主要装置，分为卧式试验台和立式试验台两种。中国专利CN2101230、CN209324856U提出了可变主轴径的特殊结构，扩大了机械密封试验台的应用范围，但其仍无法测量机械密封的具体性能参数。

发明内容

为克服上述问题，本发明提供一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台。

本发明采用的技术方案是：一种测量密封装置端面膜厚与膜压的试验台，包括密封腔，密封腔设置在基座上，密封腔内设有位于密封腔上部的实验密封和位于密封腔下部的辅助密封，实验密封包括动环、静环和静环座，辅助密封包括辅助动环、辅助静环和辅助静环座，密封腔由辅助静环座、密封腔体外壳、静环座组成，辅助静环座安装在基座上，辅助静环和密封腔体外壳的下端共同安装在辅助静环座上，密封腔体外壳的上端安装有静环座；

所述动环和辅助动环均安装在弹簧座上，弹簧座通过紧定螺钉固定在轴套上，动环靠近弹簧座的一端、辅助动环靠近弹簧座的一端均设有推环，推环与弹簧座之间设有若干弹簧；辅助动环与辅助静环、动环与静环均为密封配合；

所述动环的内圆周通过螺钉安装有一块金属测试板，静环座内安装有电涡流传感器，电涡流传感器与金属测试板同轴设置，电涡流传感器的测试端垂直并靠近金属测试板的上表面，电涡流传感器测量金属测试板的轴向位移得到端面膜厚变化；

所述静环安装在静环底座上，静环卡环将静环和静环底座压实在静环座上；静环座的顶面设有多个荷重传感器、多个螺旋测微头安装座和千分表，多个荷重传感器、多个螺旋测微头安装座分别均布在静环座上；荷重传感器与PC端电连接，荷重传感器感应到静环座表面压力发生变化时，实时采集数据并传输至PC端，PC端处理得到端面膜压变化；螺旋测微头安装座上轴向安装有螺旋测微头，螺旋测微头的测微螺杆作为压杆，其末端穿过螺旋测微头安装座、静环座朝向静环底座，以调整静环的初始位置；千分表轴向设置在静环座上，其测杆末端垂直穿过静环座朝向静环底座，以复核静环的初始位置。

进一步，所述静环内安装有电涡流传感器保护套，电涡流传感器保护套上开设有长孔，长孔与金属测试板同轴且垂直于金属测试板，电涡流传感器的测试端穿过长孔并靠近金属测试板的上表面。

进一步，所述荷重传感器、螺旋测微头的数量均为三个。

本发明的有益效果是：采用非接触式传感器测量端面膜厚变化，对内部流场影响较小，能更好地模拟实际工况；将端面膜压转化为静环座底部的支撑压力，无需对动静环进行额外的结构改变，可用目前通用的设计方法进行设计；通过螺旋测微头调节静环的初始位置，可以实现不同初始端面膜压条件下的实验，扩大了试验台的应用范围。

附图说明

图1是本发明的剖视图。

图2是图1中A处的局部放大图。