[发明专利]一种双金属膜片突跳检测装置及方法在审
| 申请号: | 202010945979.5 | 申请日: | 2020-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN111998778A | 公开(公告)日: | 2020-11-27 |
| 发明(设计)人: | 张春富;闫奇瑾;何坚强;辅小荣;蒋善超 | 申请(专利权)人: | 盐城工学院 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01K13/00;G01K13/06;H05B1/02;G05D23/19;G05B11/42;G05B19/042 |
| 代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 颜盈静 |
| 地址: | 224051 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 双金属 膜片 检测 装置 方法 | ||
1.一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:包括:微处理器、用于放置多个待测双金属膜片的双金属膜片加热板、用于对所述双金属膜片加热板进行加热的电加热单元、用于向双金属膜片加热板发射红外线的红外线发射模块、用于接收来自所述双金属膜片加热板的信息并对该信息进行逻辑处理的红外线接收信号处理模块、用于控制所述电加热单元工作并对双金属膜片加热板的温度进行实时检测的温控仪表;
所述红外线接收信号处理模块的输出连接至微处理器的数字输入端口和中断输入端口;
所述微处理器,用于向温控仪表设定双金属膜片加热板的目标温度、控制红外线发射模块工作、当突跳触发中断时,通过读取各数字输入端口的逻辑状态判定突跳双金属膜片的位置信息和获取双金属膜片加热板的当前温度信息作为待测双金属膜片的突跳温度。
2.根据权利要求1所述的一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:所述双金属膜片加热板包括加热板主体、设置在所述加热板主体上的定位槽阵列和覆盖于所述加热板主体之上的耐热玻璃;所述定位槽阵列由多个定位槽构成,一个定位槽放置一个待测双金属膜片;沿各定位槽的水平中线和垂直中线加工透光狭缝,使红外线发射模块发射出的红外线经过该透光狭缝形成水平方向的红外线和垂直方向的红外线,该水平方向的红外线和垂直方向的红外线构成正交的红外检测阵列。
3.根据权利要求2所述的一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:所述红外线发射模块和红外线接收信号处理模块设置在各透光狭缝的两端。
4.根据权利要求3所述的一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:所述红外线发射模块包括多个发射管和驱动所述发射管向外发射红外线的红外线发射驱动模块,所述红外线发射驱动模块与微处理器数字输出端口相连。
5.根据权利要求3所述的一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:所述红外线接收信号处理模块包括多个接收管和逻辑运算处理单元,所述逻辑运算处理单元将接收管接收到的信号状态转换为逻辑状态;所述信号状态包括:红外线无遮挡和被遮挡;
当所有的信号状态为红外线无遮挡时,所述逻辑状态为高电平,不触发微处理器的中断;当一路或多路的信息状态为红外线被遮挡时,所述逻辑状态为低电平,触发微处理器的中断。
6.根据权利要求5所述的一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:所述逻辑运算处理单元包括用于将红外光产生的光电流转换成电压信号并进行放大的运放单元和用于将放大后的电压信号转换为数字信号的施密特触发器;
将施密特触发器的输出进行全与运算后接微处理器中断输入端口;
所述施密特触发器的输出接微处理器的数字输入端口。
7.根据权利要求1所述的一种双金属膜片突跳检测装置,其特征在于:还包括通信单元,所述微处理器通过通信单元向温控仪表设置目标温度以及获取双金属膜片加热板的温度信息。
8.基于权利要求1至7任意一项所述的一种双金属膜片突跳检测装置的检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
步骤1:对双金属膜片加热板进行加热,使位于定位槽内的待测双金属膜片受热升温;
步骤2:当存在一个或多个双金属膜片受热达到上行突跳温度时,突跳触发中断,微处理器中断处理程序读取各数字输入端口的逻辑状态,通过各低电平所在位,确定并记录发生突跳的双金属膜片所在的定位槽位置信息及当前温度;
步骤3:判断当前温度与目标温度是否相同,若相同,则检测结束,否则中断返回,等待下次突跳触发中断。
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