[发明专利]FPGA测试方法、测试板、装置、设备和存储介质

说明书

本发明提供了一种FPGA测试方法、测试板、装置、设备和存储介质，属于FPGA测试领域，具体包括采用测试功能板接收从上位机发送的与待测器件片对应的配置文件；根据配置文件对测试功能板进行配置；在预设时间段内，采用测试功能板接收从上位机发送的与待测器件片对应的测试激励文件；采用测试功能板从测试激励文件中提取与待测器件片对应的测试规则；采用测试功能板根据测试规则对待测器件片进行测试，得到待测器件片反馈的结果数据；采用测试功能板将结果数据发送给上位机，上位机对结果数据进行分析，生成与待测器件片对应的测试结论。通过本公开的处理方案，能够在不更改硬件环境的情况下，实时完成测试接口的功能的重构，从而应对各种测试需求。

技术领域

本发明涉及FPGA测试领域，具体涉及一种可重构的FPGA测试方法、测试板、装置、设备和存储介质。

背景技术

现场可编程门阵列(FPGA：Field Programmable Gate Array)，已经成为数字电路设计领域中一种最普遍实现途径。其不仅可以解决电子系统小型化、低功耗、高可靠性等问题，而且开发周期短、投入少、芯片价格低。随着FPGA的广泛应用，FPGA的软件质量也变得愈发重要。无论是国军标还是民航针对复杂电子硬件(AEH)的设计保证指南DO254都针对FPGA的开发和测试进行了明确的规定，FPGA的相关测试工具成为了必不可少的研制保障。

现有的FPGA物理测试系统通常采用基于自动测试设备(Automatic TestEquipment,ATE)的测试系统。该系统使用通用的上位机软件和专用的接口测试卡实现对不同FPGA接口的测试。然而这样的测试系统存在以下缺陷：由于专用的接口测试卡功能单一且固定，导致该测试系统无法重用于其他项目；对于不同的测试接口需要不同的接口测试卡，系统成本高；使用环境要求复杂，使用困难；测试系统精度高，测试时间短，但由于必须使用ATE测试设备，价格开销大，硬件环境要求复杂，不利于快速测试开发。

发明内容

因此，为了克服上述现有技术的缺点，本发明提供了一种能够实现通用的FPGA物理测试，能够在不更改硬件环境的情况下，实时完成测试接口的功能的重构，从而应对各种测试需求的FPGA测试方法、测试板、装置、设备和存储介质。

为了实现上述目的，本发明提供一种FPGA测试方法，包括：采用测试功能板接收从上位机发送的与待测器件片对应的配置文件；根据所述配置文件对所述测试功能板进行配置；在预设时间段内，采用测试功能板接收从上位机发送的与待测器件片对应的测试激励文件；采用测试功能板从所述测试激励文件中提取与所述待测器件片对应的测试规则；采用测试功能板根据所述测试规则对所述待测器件片进行测试，得到所述待测器件片反馈的结果数据；采用测试功能板将所述结果数据发送给所述上位机，所述上位机对所述结果数据进行分析，生成与所述待测器件片对应的测试结论。

在其中一个实施例中，所述根据所述配置文件对所述测试功能板进行配置，包括：从所述配置文件中提取出内存映射关系；根据所述测试功能板的内存和所述内存映射关系设置与所述待测器件片对应的地址存储空间。

在其中一个实施例中，根据所述配置文件对所述测试功能板进行配置，包括：

从所述配置文件中提取出数据转换规则；

根据所述数据转换规则对所述待测器件片和所述测试功能板之间的通信数据进行转换。

在其中一个实施例中，所述测试功能板为FPGA。

本发明还提供了一种测试功能板，包括：接收从上位机发送的与待测器件片对应的配置文件；根据所述配置文件对所述测试功能板进行配置；在预设时间段内，接收从上位机发送的与待测器件片对应的测试激励文件；从所述测试激励文件中提取与所述待测器件片对应的测试规则；根据所述测试规则对所述待测器件片进行测试，得到所述待测器件片反馈的结果数据；将所述结果数据发送给所述上位机。