[发明专利]LED灯珠缺陷检测方法和装置

权利要求书

1.一种LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取样本数据集，其中，所述样本数据集中包含多个存在LED灯珠缺陷的样本产品图像和多个不存在LED灯珠缺陷的样本产品图像；

通过模板匹配法获取每个样本产品图像中的LED灯珠区域以更新所述样本数据集；

通过更新后的样本数据集对神经网络进行训练，得到LED灯珠缺陷检测模型；

获取待检测产品图像，并通过模板匹配法获取所述待检测产品图像中的LED灯珠区域以更新所述待检测产品图像；

将更新后的待检测产品图像输入所述LED灯珠缺陷检测模型，以判断是否存在LED灯珠缺陷。

2.根据权利要求1所述的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，进行训练的更新后的样本数据集中的图像和实施检测的更新后的待检测产品图像均为三通道图像。

3.根据权利要求1所述的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，其中，所述模板匹配法包括：

将样本产品图像或待检测产品图像分解为矩阵形式，并将矩阵形式的图像中的特征按照坐标进行排列；

通过图像比对获取图像中的元器件区域；

对所述元器件区域进行LED灯珠坐标定位以得到LED灯珠区域。

4.根据权利要求3所述的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述神经网络为VGG网络或Inception网络。

5.根据权利要求4所述的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，所述神经网络中构建分类算法。

6.根据权利要求4所述的LED灯珠缺陷检测方法，其特征在于，采用全监督的梯度下降法对所述神经网络进行训练。

7.一种LED灯珠缺陷检测装置，其特征在于，包括：

第一获取模块，所述第一获取模块用于获取样本数据集，其中，所述样本数据集中包含多个存在LED灯珠缺陷的样本产品图像和多个不存在LED灯珠缺陷的样本产品图像；

第一匹配模块，所述第一匹配模块用于通过模板匹配法获取每个样本产品图像中的LED灯珠区域以更新所述样本数据集；

训练模块，所述训练模块用于通过更新后的样本数据集对神经网络进行训练，得到LED灯珠缺陷检测模型；

第二获取模块，所述第二获取模块用于获取待检测产品图像；

第二匹配模块，所述第二匹配模块用于通过模板匹配法获取所述待检测产品图像中的LED灯珠区域以更新所述待检测产品图像；

检测模块，所述检测模块用于将更新后的待检测产品图像输入所述LED灯珠缺陷检测模型，以判断是否存在LED灯珠缺陷。

8.一种计算机设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时，实现根据权利要求1-6中任一项所述的LED灯珠缺陷检测方法。

9.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现根据权利要求1-6中任一项所述的LED灯珠缺陷检测方法。

10.一种计算机程序产品，其特征在于，当所述计算机程序产品中的指令由处理器执行时，执行根据权利要求1-6中任一项所述的LED灯珠缺陷检测方法。