[发明专利]一种测量键合丝熔断电流的制具

说明书

本发明涉及键合丝性能测试技术领域，且公开了一种测量键合丝熔断电流的制具，包括底座，所述底座的上表面通过第一螺钉固定有U型支架，且所述底座的上表面位于所述U型支架的左侧设有螺旋千分头，所述螺旋千分头的右端贯穿所述U型支架，且所述螺旋千分头通过所述螺母与所述U型支架固定连接，所述底座的上表面位于所述U型支架的右侧设有滑块，所述滑块的上表面通过第二螺钉固定有第二支撑板；一方面，通过螺旋千分头带动滑块移动，以精确控制两个导电块之间的距离，进而达到控制测量线材长度的目的；另一方面，通过螺旋千分头的移动，在一段距离内，可柔性控制测量线材长度，灵活性强。

技术领域

本发明涉及键合丝性能测试技术领域，具体为一种测量键合丝熔断电流的制具。

背景技术

键合丝是芯片内部以及芯片与外部器件之间实现电路连接的一种极细金属丝引线，主要用于集成电路以及半导体领域。键合丝性能质量将直接影响到电器的实际使用寿命。

不同材料制成的键合丝具有不同的电学性能，不同线径的键合丝其电学性能亦有很大差异。在键合丝的技术规格书上，通常需要体现键合丝熔断电流的上限值，以提供给客户作为参考。

目前，键合丝熔断电流的测量步骤繁琐，且测量距离难以控制，导致其测量准确度低，所以，如何设计一种测量键合丝熔断电流的制具来提高测量的准确度以及测量效率，成为我们当前需要解决的问题。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种测量键合丝熔断电流的制具，解决了上述背景技术中所提出的问题。

(二)技术方案

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种测量键合丝熔断电流的制具，包括底座，所述底座的上表面通过第一螺钉固定有U型支架，且所述底座的上表面位于所述U型支架的左侧设有螺旋千分头，所述螺旋千分头的右端贯穿所述U型支架，且所述螺旋千分头通过所述螺母与所述U型支架固定连接，所述底座的上表面位于所述U型支架的右侧设有滑块，所述滑块的上表面通过第二螺钉固定有第二支撑板，所述第二支撑板的上表面通过第三螺钉固定有第二电磁吸合器，所述滑块的上表面位于所述第二支撑板的后方通过第四螺钉固定有第二L型支架，所述第二L型支架的前表面通过第五螺钉固定有第二导电块，所述底座的上表面位于所述滑块的右侧通过第六螺钉固定有第一L型支架，所述第一L型支架的后表面通过第七螺钉固定有第一导电块，所述底座的上表面通过第七螺钉固定有第一支撑板，所述第一支撑板位于所述第一导电块的后方，且所述第一支撑板的上表面通过第八螺钉固定有第一电磁吸合器。

优选的，所述滑块的上表面固定有第九螺钉，所述第九螺钉用于固定所述螺旋千分头。

优选的，所述滑块的上表面位于所述第九螺钉的右侧固定有第十螺钉，所述第十螺钉用于固定所述滑块。

优选的，所述第一电磁吸合器在断电时，其触头与所述第一导电块紧密接触，通电后，其触头收缩，远离所述第一导电块。

优选的，所述第二电磁吸合器在断电时，其触头与所述第二导电块紧密接触，通电后，其触头收缩，远离所述第二导电块。

优选的，所述第一导电块前表面安装有第十一螺钉，所述第十一螺钉用于连接导线，接通外界电路。

优选的，所述第二导电块的后表面安装有第十二螺钉，所述第十二螺钉用于连接导线，接通外界电路。

(三)有益效果

本发明提供了一种测量键合丝熔断电流的制具，具备以下有益效果：

(1)、本发明一方面，通过螺旋千分头带动滑块移动，以精确控制两个导电块之间的距离，进而达到控制测量线材长度的目的；另一方面，通过螺旋千分头的移动，在一段距离内，可柔性控制测量线材长度，灵活性强。