[发明专利]基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法及校准系统有效
申请号: | 202010934699.4 | 申请日: | 2020-09-08 |
公开(公告)号: | CN112113746B | 公开(公告)日: | 2022-08-05 |
发明(设计)人: | 李文兴;胡婉君;王卓念 | 申请(专利权)人: | 广州广电计量检测股份有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 陈伟斌 |
地址: | 510665 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 外调 光源 测试仪 校准 方法 系统 | ||
本发明公开了一种基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法及校准系统,所述方法如下:产生稳定的频率参考信号;将激光光源产生的光束输入光隔离器进行处理;根据不同的频率参考信号选择不同的输出波形信号,并对通过光隔离器的光束进行调制,产生频闪光信号;对频闪光信号进行放大处理,并输出到参考探测器上,参考探测器将接收到的光信号进行光电转换输出到频率计上,同时将频率参考信号输出给频率计;频率计对光信号进行测量,记下该数值;将待校准的光源频闪测试仪替换参考探测器和频率计;通过利用待校准的光源频闪测试仪对光信号直接进行测量,通过不断的调试,使得待校准的光源频闪测试仪读取数值与频率计读取的数值一致,完成校准。
技术领域
本发明涉及光源频闪测试技术领域,更具体的,涉及一种基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法及校准系统。
背景技术
光源频闪测试仪是用于对光源或其他照明设备的频闪效应进行测试的仪器,目前国内尚无光源频闪测试仪的计量技术规范,也没有相关自动校准系统或方法的专利。对于光源频闪测试仪的校准,目前杭州远方光电、日本京立电机等仪器生产厂商主要使用参考示波器与被检光源频闪测试仪进行人工比对的方法,其校准装置主要由光源、光电转换器、参考示波器组成。如中国专利公开号CN109799366A,公开日:2019.05.24,公开了一种基于频闪光源的光幕靶校准装置及其校准方法,具体公开了包括起始校准光幕结构、截止校准光幕结构、计算机、光源控制器和信号采集器,所述起始校准光幕结构包含起始靶发射光源安装架、起始靶频闪光源、起始靶光电转换器;所述截止校准光幕结构包含截止靶发射光源安装架、截止靶频闪光源、截止靶光电转换器。
以上现有技术主要有以下缺点:无法实现高精度的校准,效率不高;示波器的频率测量精度不高,不利于光源闪烁频率的溯源;所使用的光源为宽光谱光源,仪器对不同波长成分的光响应时间不同,导致波形展宽,上升时间变大,闪烁指数参数无法准确计量;宽光谱光源受制于材料,无法产生高频的频闪信号,计量能力范围受限。
发明内容
本发明为了解决现有技术对光源频闪测试仪校准不够精准,效率不高的问题,提供了一种基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法及其校准系统,实现对光源频闪测试仪高精度的计量校准及溯源,同时提高校准效率。
为实现上述本发明目的,采用的技术方案如下:一种基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法,所述的校准方法包括以下步骤:
S1:产生稳定的频率参考信号;
S2:为了减少光功率的扰动,将激光光源产生的光束输入光隔离器进行处理;
S3:根据不同的频率参考信号选择不同的输出波形信号,并对通过光隔离器的光束进行调制,从而产生频闪光信号;
S4:对产生的频闪光信号的光束进行放大处理,并输出到参考探测器上,参考探测器将接收到的光信号进行光电转换输出到频率计上,同时将频率参考信号输出给频率计;所述的频率计对光信号进行测量、数值显示,记下该数值;
S5:将待校准的光源频闪测试仪替换参考探测器和频率计,即光源产生的频闪光信号通过放大处理后,输出到待校准的光源频闪测试仪;
S6:通过利用待校准的光源频闪测试仪对光信号直接进行测量,通过不断的调试,使得待校准的光源频闪测试仪读取数值与频率计读取的数值一致,完成校准。
基于以上所述的基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法,本发明还提供了一种基于外调制光源法的光源频闪测试仪的校准方法的校准系统,所述的系统包括原子频率标准仪、任意波形发生器、激光器、光隔离器、调制器、扩束器、参考探测器、频率计、待校准的光源频闪测试仪;
所述的原子频率标准仪,分别为任意波形发生器、频率计提供稳定的频率参考信号;
所述的任意波形发生器,根据不同的频率参考信号选择不同的输出波形信号;
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