[发明专利]地震数据反演无拉伸动校正方法、装置、电子设备及介质在审

专利信息
申请号: 202010929078.7 申请日: 2020-09-07
公开(公告)号: CN114152986A 公开(公告)日: 2022-03-08
发明(设计)人: 王瑞;刘韬;陈冬 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院
主分类号: G01V1/36 分类号: G01V1/36
代理公司: 北京思创毕升专利事务所 11218 代理人: 孙向民;廉莉莉
地址: 100027 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 地震 数据 反演 拉伸 校正 方法 装置 电子设备 介质
【权利要求书】:

1.一种地震数据反演无拉伸动校正方法,其特征在于,包括:

参考道贝叶斯反演定位反射系数位置;

以所述反射系数位置为约束,确定稀疏反射系数反演的目标函数;

针对所述稀疏反射系数反演的目标函数通过最小二乘法求解,计算动校正后的反射系数;

通过所述动校正后的反射系数计算动校正后的地震数据。

2.根据权利要求1所述的地震数据反演无拉伸动校正方法,其中,参考道贝叶斯反演定位反射系数位置包括:

建立基于褶积模型的地震数据矩阵;

计算反射系数的后验概率密度分布;

计算超参数,根据所述超参数与所述反射系数的后验概率密度分布,确定反射系数位置。

3.根据权利要求2所述的地震数据反演无拉伸动校正方法,其中,反射系数的后验概率密度分布为:

其中,C表示常数,Σ表示协方差,μ表示均值,H=diag(h1,h2,…,hK)是一个对角矩阵。

4.根据权利要求2所述的地震数据反演无拉伸动校正方法,其中,所述超参数的边缘分布为:

p(d|h,σ2,θ)=-2∫p(d|m,σ2,θ)p(m|h)dm=(2π)K|Q|exp(dTQ-1d) (2)

其中,对公式(2)求最小即可求出超参数。

5.根据权利要求1所述的地震数据反演无拉伸动校正方法,其中,稀疏反射系数反演的目标函数为:

其中,N为动校正线性算子。

6.根据权利要求1所述的地震数据反演无拉伸动校正方法,其中,通过公式(4)计算动校正后的反射系数:

其中,R为动校正后的反射系数。

7.根据权利要求1所述的地震数据反演无拉伸动校正方法,其中,通过公式(5)计算动校正后的地震数据:

Sknmo=WRk (5)

其中,S为动校正后的地震数据。

8.一种地震数据反演无拉伸动校正装置,其特征在于,包括:

定位模块,参考道贝叶斯反演定位反射系数位置;

目标函数确定模块,以所述反射系数位置为约束,确定稀疏反射系数反演的目标函数;

反射系数计算模块,针对所述稀疏反射系数反演的目标函数通过最小二乘法求解,计算动校正后的反射系数;

动校正模块,通过所述动校正后的反射系数计算动校正后的地震数据。

9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:

存储器,存储有可执行指令;

处理器,所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令,以实现权利要求1-7中任一项所述的地震数据反演无拉伸动校正方法。

10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,该计算机可读存储介质存储有计算机程序,该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的地震数据反演无拉伸动校正方法。

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