[发明专利]一种表征水合物藏渗流能力的方法及装置

权利要求书

1.一种表征水合物藏渗流能力的方法，其特征在于，包括如下步骤：

获取水合物藏的水合物饱和度、储层颗粒的平均直径、储层颗粒数量，以及原始含水饱和度；

根据水合物藏的水合物饱和度、储层颗粒的平均直径、储层颗粒数量，按照第一预定规则获得第一模型的预测含水饱和度，按照第二预定规则获得第二模型的预测含水饱和度，按照第三预定规则获得第三模型的预测含水饱和度，以及按照第四预定规则获得第四模型的预测含水饱和度；

将原始含水饱和度与第一模型的预测含水饱和度拟合，获得第一相关系数，将原始含水饱和度与第二模型的预测含水饱和度拟合，获得第二相关系数，将原始含水饱和度与第三模型的预测含水饱和度拟合，获得第三相关系数，将原始含水饱和度与第四模型的预测含水饱和度拟合，获得第四相关系数；

根据第一相关系数、第二相关系数、第三相关系数、以及第四相关系数，按照第五预定规则判断储层颗粒运移对渗流的影响。

2.根据权利要求1所述的表征水合物藏渗流能力的方法，其特征在于，所述第一预定规则为按照以下公式计算得到第一模型的预测含水饱和度：

其中，y_1i表示为第一模型的第i个预测含水饱和度；S_i表示为第i个水合物饱和度；d_i表示为第i个储层颗粒的平均直径，单位：米；n_i表示为第i个储层颗粒数量，单位：个；i取1至m中的正整数；m表示为原始含水饱和度的数量。

3.根据权利要求1所述的表征水合物藏渗流能力的方法，其特征在于，所述第二预定规则为按照以下公式计算得到第二模型的预测含水饱和度：

其中，y_2i表示为第二模型的第i个预测含水饱和度；S_i表示为第i个水合物饱和度；d_i表示为第i个储层颗粒的平均直径，单位：米；n_i表示为第i个储层颗粒数量，单位：个；i取1至m中的正整数；m表示为原始含水饱和度的数量。

4.根据权利要求1所述的表征水合物藏渗流能力的方法，其特征在于，所述第三预定规则为按照以下公式计算得到第三模型的预测含水饱和度：

其中，y_3i表示为第三模型的第i个预测含水饱和度；S_i表示为第i个水合物饱和度；d_i表示为第i个储层颗粒的平均直径，单位：米；n_i表示为第i个储层颗粒数量，单位：个；i取1至m中的正整数；m表示为原始含水饱和度的数量。

5.根据权利要求1所述的表征水合物藏渗流能力的方法，其特征在于，所述第四预定规则为按照以下公式计算得到第四模型的预测含水饱和度：

其中，y_4i表示为第四模型的第i个预测含水饱和度；S_i表示为第i个水合物饱和度；d_i表示为第i个储层颗粒的平均直径，单位：米；n_i表示为第i个储层颗粒数量，单位：个；i取1至m中的正整数；m表示为原始含水饱和度的数量。

6.根据权利要求1所述的表征水合物藏渗流能力的方法，其特征在于，所述第五预定规则为：比较第一相关系数、第二相关系数、第三相关系数、以及第四相关系数，越接近1，则储层颗粒的存在对于储层渗流能力的影响越接近实际情况。