[发明专利]显示面板的测试电路、测试方法和显示面板

说明书

本发明实施例公开一种显示面板的测试电路、测试方法和显示面板，测试电路中第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接测试信号端口不同；第一测试模块根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；第二测试模块根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态，可减少测试电路中控制信号线的数量和焊盘数量，有利于窄边框的实现。

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的测试电路、测试方法和显示面板。

背景技术

随着显示技术的发展，显示面板的窄边框已成为一大发展趋势。

现有技术中，显示面板的边框区域通常包括测试电路、多路选择电路、多条扇出线以及多个焊盘。

现有技术中测试电路所需的焊盘数量较多，占用空间较大，成为实现窄边框的障碍。

发明内容

本发明提供一种显示面板的测试电路、测试方法和显示面板，以实现减少测试电路所需的焊盘数量，进而节省测试电路对应的焊盘占用的空间，在边框宽度确定的情形下，可以为其他焊盘和电路的设置留下更大空间。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板的测试电路，包括多个第一测试模块、多个第二测试模块、第一控制信号线和第二控制信号线；

第一测试模块包括第一控制端、第二控制端、第一输入端、第二输入端和第一输出端，第一控制端与第一控制信号线电连接，第二控制端与第二控制信号线电连接，第一测试模块的第一输入端和第二输入端连接不同的测试信号端口；第一测试模块用于根据第一控制端输入的信号控制第一输入端与第一输出端之间的导通状态，以及用于根据第二控制端输入的信号控制第二输入端与第一输出端之间的导通状态；

第二测试模块包括第三控制端、第四控制端、第三输入端、第四输入端和第二输出端，第三控制端与第一控制信号线电连接，第四控制端与第二控制信号线电连接，第二测试模块的第三输入端和第四输入端连接相同的测试信号端口；第二测试模块与第一测试模块连接的测试信号端口不同；第二测试模块用于根据第三控制端输入的信号控制第三输入端与第二输出端之间的导通状态，以及用于根据第四控制端输入的信号控制第四输入端与第二输出端之间的导通状态。

可选的，第一测试模块包括第一晶体管和第二晶体管，第一晶体管的栅极作为第一测试模块的第一控制端，第一晶体管的第一极作为第一测试模块的第一输入端；

第二晶体管的栅极作为第一测试模块的第二控制端，第二晶体管的第一极作为第一测试模块的第二输入端，第二晶体管的第二极与第一晶体管的第二极电连接，第二晶体管的第二极和第一晶体管的第二极的公共端作为第一测试模块的第一输出端。

可选的，第二测试模块包括第三晶体管和第四晶体管，第三晶体管的第一极作为第二测试模块的第三输入端；第四晶体管的第一极作为第二测试模块的第四输入端，第四晶体管的第二极与第三晶体管的第二极电连接，第四晶体管的第二极和第三晶体管的第二极的公共端作为第二测试模块的第二输出端；

第三晶体管的栅极作为第二测试模块的第三控制端，第四晶体管的栅极作为第二测试模块的第四控制端；或者第三晶体管的栅极作为第二测试模块的第四控制端，第四晶体管的栅极作为第二测试模块的第三控制端。

可选的，显示面板包括像素电路，像素电路包括至少两个晶体管，第一测试模块以及第二测试模块所包括的晶体管沟道类型与像素电路包括的晶体管的沟道类型相同。