[发明专利]基于WS2 有效
申请号: | 202010921152.0 | 申请日: | 2020-09-04 |
公开(公告)号: | CN112033564B | 公开(公告)日: | 2022-12-20 |
发明(设计)人: | 严佳豪;毛笔君;刘心悦 | 申请(专利权)人: | 暨南大学 |
主分类号: | G01K11/20 | 分类号: | G01K11/20 |
代理公司: | 西安知诚思迈知识产权代理事务所(普通合伙) 61237 | 代理人: | 麦春明 |
地址: | 510632 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 ws base sub | ||
1.基于WS2、VO2的测温平台的使用方法,其特征在于,该测温平台包括Al2O3基板,Al2O3基板上沉积有VO2薄膜,VO2薄膜上附着有WS2薄片,VO2薄膜的厚度为100±20nm,WS2薄片的厚度为30nm~40nm;
Al2O3基板上沉积有VO2薄膜是将纯度为99.99%的Al2O3基板和钒金属靶材平行放置在真空室(4)内,调整真空室(4)的压力为20mTorr、温度为550℃,向真空室(4)内通入流量为22.5sccm的O2和流量为15sccm的Ar,使用波长为248nm、脉冲频率为4Hz、脉冲宽度为25ns的KrF准分子激光烧蚀表面的功率密度为4J/cm2、功率通量为200mW的钒金属靶材,在Al2O3基板沉积VO2薄膜;
使用机械剥离工艺获得WS2薄片,用Nitto胶带将WS2薄片转移到PDMS基材,再使用全干转移法将WS2薄片转移到VO2薄膜上获得Al2O3-VO2-WS2三层结构的测温平台;
该测温平台的使用方法包括以下步骤:
S1,取纯度≥99%、厚度为0.5cm~1cm的介质材料,对其进行超声波清洗后,将介质材料垂直放置在长度为7~15cm的石英槽(2)端部,向石英槽(2)内注入去离子水,使去离子水漫过介质材料顶部;
S2,调节掺钛蓝宝石自锁飞秒激光器(1)的光路,使激光光束依次穿过全反射镜、聚焦透镜和石英槽(2)侧壁,聚焦在介质材料后侧1.5cm~2.5cm处,介质材料表面的光斑直径为0.25cm~0.75cm,介质材料在激光作用下反应10min获得黄褐色的纳米颗粒悬浮液,将纳米颗粒悬浮液置于收集容器(3)中保存;
S3,将纳米颗粒悬浮液稀释至透明溶液,滴涂在WS2薄片上自然蒸干,获得搭载有不同形态、不同数目介质纳米颗粒团簇的测温平台;
S4,将测温平台放置在加热板上,在外加电压作用下使测温平台的温度从35℃上升至90℃,使用万用电表检测VO2薄膜的电阻,绘制电阻-温度曲线,将集成有石英钨卤素灯的暗场显微镜与光谱仪联用,检测测温平台的暗场散射光谱,得到不同温度下的峰值波长,由于测温平台峰值波长随温度的变化趋势与VO2薄膜电阻随温度的变化趋势一致,将VO2薄膜的电阻-温度曲线作为光热测量标尺;
S5,在光入射下使用加热板将测温平台加热至35℃、60℃和90℃,分别检测待检测纳米颗粒团簇的暗场散射光谱,获得待检测纳米颗粒团簇在相应加热温度下的实际峰值波长;
S6,按照下式对待检测纳米颗粒团簇的实际峰值波长进行归一化,将待检测纳米颗粒团簇在加热温度为35℃的实际峰值波长设置为1,在90℃的实际峰值波长设置为0,并获得待检测纳米颗粒团簇在加热温度为60℃时实际峰值波长的归一化值λx′;
其中λx表示待检测纳米颗粒团簇在加热温度为60℃时的实际峰值波长,x表示λx′在光热测量标尺中对应的实际温度,λ90℃表示待检测纳米颗粒团簇在加热温度为90℃时的实际峰值波长,λ35℃表示待检测纳米颗粒团簇在加热温度为35℃时的实际峰值波长;
S7,将λx′在光热测量标尺中对应的实际温度与加热温度60℃作差,获得待检测纳米颗粒团簇在光入射下的局部温度增量。
2.根据权利要求1所述基于WS2、VO2的测温平台的使用方法,其特征在于,所述S1使用的介质材料为Si、Ge、Se、Te或TiO2。
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