[发明专利]SRAM坏点处理方法、系统、装置和计算机设备

说明书

本申请涉及存储器技术领域，提供了一种SRAM坏点处理方法、系统、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：通过接收数据访问模块获得的针对SRAM的访问地址，与CPU扫描后在信息寄存器中存储的坏点地址进行匹配，得到访问地址匹配的目标坏点地址，获取与目标坏点地址对应的数据寄存器，从中读写对应的数据内容。本申请提供的方案，将CPU扫描到的坏点地址存储在信息寄存器，并预先为各个坏点地址配置对应的数据寄存器用于存储坏点地址对应的数据内容，使得在SRAM使用过程中，可以对SRAM的坏点情况进行动态管理，通过数据寄存器实现坏点地址对应的SRAM数据内容的读写，实现了对SRAM坏点的替换操作，提高了SRAM坏点管理的效率，并进一步提高了SRAM的可靠性。

技术领域

本申请涉及存储器技术领域，特别是涉及一种SRAM坏点处理方法、系统、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

静态随机存取存储器(Static Random-Access Memory，SRAM)是随机存取存储器的一种，广泛用于芯片的缓存，SRAM的地址单元出现故障会导致整块SRAM无法正常工作，进而影响芯片的功能。因此，在芯片的出厂和使用过程中，需要对SRAM的坏点情况进行测试。

目前的技术中，通常在芯片出厂时，对SRAM采用增加冗余列和冗余行的方法来对坏点进行替换，制造工艺复杂，且无法针对使用过程出现的坏点进行替换。

发明内容

基于此，有必要针对目前技术中存在的SRAM坏点处理的技术问题，提供一种SRAM坏点处理方法、系统、装置、计算机设备和存储介质。

一种SRAM坏点处理方法，所述方法包括：

接收数据访问模块获得的针对SRAM的访问地址；

获取信息寄存器中存储的坏点地址；所述信息寄存器用于存储CPU扫描到的所述SRAM的坏点地址；

将所述访问地址与所述信息寄存器中的各个坏点地址进行匹配，得到与所述访问地址匹配的目标坏点地址；

获取所述目标坏点地址对应的数据寄存器，从所述数据寄存器中读写与所述目标坏点地址对应的数据内容。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

接收CPU扫描到的所述SRAM的坏点地址；

将所述坏点地址存储在所述信息寄存器中；

为所述信息寄存器中各个所述坏点地址配置对应的数据寄存器，并保存所述配置信息；所述数据寄存器用于存取与所述坏点地址对应的数据内容。

在其中一个实施例中，所述访问地址对应的任务包括针对SRAM的写入任务和读取任务；所述从所述数据寄存器中读写与所述目标坏点地址对应的数据内容，包括：

若确认所述任务为写入任务，将所述访问地址对应的数据内容写入到与所述目标坏点地址对应的数据寄存器中；

若确认所述任务为读取任务，从所述数据寄存器中获取所述目标坏点地址对应的数据内容，并返回给所述数据访问模块。

在其中一个实施例中，所述将所述访问地址与所述信息寄存器中的各个坏点地址进行匹配，得到与所述访问地址匹配的目标坏点地址之后，所述方法还包括：

若确定所述访问地址对应的任务为写入任务，获取与所述访问地址对应的数据内容；将所述访问地址对应的数据内容写入到与所述访问地址对应的SRAM存储地址中。

在其中一个实施例中，所述方法还包括：

若所述信息寄存器中未包含与所述访问地址对应的坏点地址，从所述SRAM中读写与所述访问地址对应的数据内容。

在其中一个实施例中，所述数据访问模块包括CPU和DMA中至少一个。