[发明专利]高精度微重量测量的装置及系统在审
| 申请号: | 202010907752.1 | 申请日: | 2020-09-02 |
| 公开(公告)号: | CN111982253A | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 金华伏安光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G01G3/12 | 分类号: | G01G3/12;G01G17/00;G01B11/16 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 322200 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 高精度 重量 测量 装置 系统 | ||
1.一种高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述装置包括:壳体、承重板、支撑部、激光器、探测器和贵金属层;所述壳体侧面靠近一端的位置开口,所述承重板的一端从所述开口伸入到所述壳体内部,并连接在所述壳体的与所述开口相对的一侧内壁上,所述激光器和所述探测器分别设置在所述壳体内部的两端,所述贵金属层设置在所述承重板靠近所述激光器的一侧,所述激光器、所述承重板、所述贵金属层和所述探测器的连接线为一条直线,且所述承重板的材质为透明材料,所述支持部一端连接在所述承重板远离贵金属层的一侧,另一端连接在所述壳体的内壁上,用于对所述承重板进行支撑。
2.根据权利要求1所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述贵金属层的结构为贵金属微纳结构阵列。
3.根据权利要求2所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述贵金属微纳结构阵列周期性设置在所述承重板靠近所述激光器的一侧。
4.根据权利要求3所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述贵金属层的形状为“L”形、“F”形或“P”形。
5.根据权利要求1所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述装置还包括第二贵金属层,所述第二贵金属层设置在所述承重板靠近所述探测器的一侧。
6.根据权利要求5所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述贵金属层和所述第二贵金属层的材料为金、银、钌、铑、钯、锇、铱、铂中至少一种。
7.根据权利要求1所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述装置还包括聚焦透镜,所述聚焦透镜设置在所述承重板和所述探测器之间,且所述聚焦透镜、所述承重板和所述探测器的连接线为同一条直线。
8.根据权利要求7所述的高精度微重量测量的装置,其特征在于,所述聚焦透镜为透镜组。
9.一种高精度微重量测量的系统,其特征在于,所述系统包括:计算机和权利要求1-8任意一项所述的高精度微重量测量的装置,所述高精度微重量测量的装置的所述探测器与所述计算机通信连接,所述计算机用于接收所述探测器探测的光信号,并根据光信号与重量的关系,得到待测质量。
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