[发明专利]发射机的杂散辐射测试方法及系统

说明书

本发明的目的是提供一种发射机的杂散辐射测试方法及系统，本发明的程控频谱仪+射频开关的发射机的杂散辐射测试方案，不仅可以测试到13Ghz，可以覆盖GSM 4频全谐波、WCDMA全频全谐波、LTE全频全谐波测试，覆盖性大大提高；而且可以通过测试单音信号，在时域取值精确度高；另外，频谱仪每一次读取2、3、4、5次谐波值的测试效率大大提升。

技术领域

本发明涉及一种发射机的杂散辐射测试方法及系统。

背景技术

发射机的杂散辐射是指：用标准信号调制时在除载频和由于正常调制和切换瞬态引起的边带以及邻道以外离散频率上的辐射。杂散辐射可能是一些非线性元器件产生的谐波分量、交调信号等。

现有的方案中用CMW100 CMW500来测试GSM三次谐波。具体步骤是：

对于GSM 900使能DUT发射GSM 900某一频点、某一功率信号，设置CMW500或CMW100用GPRF测试机测试对应倍频处的功率。

现有的程控CMW500 CMW100+耦合板的测试方式，存在如下问题：

①只能测试小于6Ghz的GSM谐波测试，覆盖性差；

②对于5Ghz到6Ghz的信号，由于仪表底噪较大，5次谐波GPRF测试机测试值已不准确，测试精度差；

③因为杂散测试期望功率离散，导致测试每次谐波，需要尝试设置三种不同等级功率取值，浪费了2/3时间。

发明内容

本发明的一个目的是提供一种发射机的杂散辐射测试方法及系统。

根据本发明的一个方面，提供了一种发射机的杂散辐射测试方法，该方法包括：

将程控频谱仪与射频开关连接；

对所述程控频谱仪和发射机进行参数设置；

所述射频开关接收设置好参数的发射机发出的GSM 4频全谐波、WCDMA全频全谐波或LTE全频全谐波的信号，将所述信号过滤后发送给程控频谱仪；

设置好参数的程控频谱仪从所述射频开关接收过滤后的信号，并基于过滤后的信号得到所述发射机的谐波值，基于所述谐波值判断所述发射机的杂散辐射的大小。

进一步的，上述方法中，对所述程控频谱仪和发射机进行参数设置，包括：

将所述程控频谱仪设置为VISA通信方式；

设置发射机的DUT发射主频信号；

对所述程控频谱仪的主频功率进行初始化设置；

设置所述程控频谱仪的中心频率；

设置所述程控频谱仪的线损。

进一步的，上述方法中，对所述程控频谱仪和发射机进行参数设置，包括：

将所述程控频谱仪设置为VISA通信方式；

对所述程控频谱仪的谐波进行初始化设置；

设置所述程控频谱仪的倍频频率；

设置所述程控频谱仪的线损。

进一步的，上述方法中，基于过滤后的信号得到所述发射机的谐波值，包括：

选取过滤后的信号中的跟踪模式的标值点中的最大值作为所述发射机的谐波值。

根据本发明的另一方面，还提供一种发射机的杂散辐射测试系统，其中，该系统包括：

设置装置，用于对所述程控频谱仪和发射机进行参数设置；