[发明专利]一种时域反射信号数据采集方法及装置

说明书

本申请公开了一种时域反射信号数据采集方法及装置，以解决现有时域反射信号采样设备成本高的问题。方法包括：处理器控制门阵列器件向待测故障线路发射脉冲信号，门阵列器件同步启动对发射信号对应的反射信号进行采样的延迟计时；发射信号用于检测待测故障线路故障位置；延时是相对于发射信号的发射时刻开始的计时，每次采样，所延时时长不同；延时到预设采样时间点时，门阵列器件向低速ADC转换器和高速采样保持器发送Trig触发信号，以触发低速ADC转换器对高速采样保持器输出的反射信号进行单点采样；采样次数与发射信号发出次数相关。本申请通过上述方法，采用低速ADC转换器，通过增加采样时间与次数，达到降低成本实现高速采样的目的。

技术领域

本申请涉及通信技术领域，尤其涉及一种时域反射信号数据采集方法及装置。

背景技术

时域反射技术(Time-Domain Reflectometry，TDR)在雷达、线缆障碍测试、光缆障碍测试领域应用十分广泛。

现有的时域反射信号采集，都是在信号放大调理后输送到高速ADC(Analog-to-Digital Converter模数转换器)转换器的采集端，进行实时采集。依据测量精度要求，高速ADC转换器的采集频率需要达到100Mhz甚至更高。当前也有通过增加ADC转换器的数量，通过错开采样时间实现高速的信号采集，该方法的缺点是需要多个ADC转换器，价格也会偏高，而且针对控制时序也会比较复杂。

目前的技术是针对各种高速信号的采集，在时域反射的测量场景下，现有采样方式性价比不高，价格昂贵，不能降低对应产品的整体价格。尤其不适用于输电线路中对信号进行高速采样。

发明内容

本申请实施例提供了一种时域反射信号数据采集方法及装置，用以解决现有的时域反射信号采集方法成本高的技术问题。

一方面，本申请实施例提供了一种时域反射信号数据采集方法。处理器控制门阵列器件向待测故障线路发射脉冲信号，门阵列器件同步启动对发射信号对应的反射信号进行采样的延迟计时；发射信号用于检测所述待测故障线路发生故障的位置；其中，延时是相对于发射信号的发射时刻开始的计时，且每次对反射信号的采样，所对应的延时时长不同；在延时到预设采样时间点时，门阵列器件向低速ADC转换器和高速采样保持器发送Trig触发信号，以触发低速ADC转换器在预设采样时间点，对高速采样保持器中输出的反射信号进行单点采样；单点采样的次数与所述发射信号发出的次数相关。

本申请实施例在发射信号发出瞬间，同时启动对发射信号对应的反射信号进行采样的延时计时，以实现对每次发出的发射信号所分别对应的反射信号，延时不同时间进行采样。并且，每次采样都是在预设采样点通过Trig触发信号触发低速ADC转换器进行采样。从而可以更好的控制采样的时间点以及两次采样的间隔时间。进而通过增加发射信号的发出次数，增加对反射信号的采样次数以及采样的时间，以达到采用设备成本较低的低速ADC转换器进行高速采样的目的。

在本申请的一种实现方式中，对所述高速采样保持器中输出的反射信号进行单点采样之前，所述方法还包括：所述门阵列器件根据(n-1)×t，确定所述Trig触发信号产生时间；其中，t为所述Trig触发信号比所述发射信号延时的第一预设时间值，n为采集次数。

本申请实施例通过公式(n-1)×t确定Trig触发信号产生时间，进而确定对每次发出的发射信号分别对应的反射信号进行采样的时间。通过这种方式可以得到相邻两次采样点间隔时间都为t的采样效果。根据不同的测试信号，对相应的反射信号的采样点进行适当调整。即，通过对t的大小进行调整，可以获取更高的测量精度，从而得到更为精准的采样结果。

在本申请的一种实现方式中，在对高速采样保持器中输出的反射信号进行单点采样之后，其方法包括：处理器接收来自所述低速ADC转换器的若干单点采样结果；根据所述若干单点采样结果，确定待测故障线路发生故障的位置。