[发明专利]次/超同步谐波参数识别方法、装置、设备和介质

权利要求书

1.一种次/超同步谐波参数识别方法，其特征在于，所述方法包括：

获取电力信号；

对所述电力信号进行离散化以得到离散电力信号；

利用加窗插值FFT对所述离散电力信号进行截断加权，利用FFT对截断加权后的所述离散电力信号进行处理得到所述次/超同步谐波的第一离散谱；在所述第一离散谱的理论峰值频点左边和右边的谱线中找到最大的四根谱线；利用最小二乘法对找到的所述四根谱线进行拟合以得到拟合曲线，根据所述拟合曲线得到所述电力信号中次/超同步谐波的幅值参数和频率参数；其中，所述电力信号中次/超同步谐波的幅值参数和频率参数是通过由最小二乘法对至少两个谱线进行拟合得到的拟合曲线计算得到的；

利用apFFT对所述离散电力信号进行处理以得到所述电力信号中次/超同步谐波的相位参数；以及对所述离散电力信号进行处理之前需要进行预处理，所述预处理包括以所述离散电力信号的数据样本中心点为基准对齐，并做循环移位处理后获得全相位子段；采用Nuttall单窗函数在第一加窗位置点和第二加窗位置点对所述全相位子段进行加权；所述第一加窗位置点为所述离散电力信号的截断数据的位置点，所述第二加窗位置点为所述全相位子段进行加权的位置点。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用加窗插值FFT对所述离散电力信号进行截断加权，包括：

获取长度为N_p的MSD-SCW函数；

利用所述长度为N_p的MSD-SCW函数对相同长度的所述离散电力信号进行截断加权。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取长度为N_p的MSD自卷积窗函数序列包括：

获取长度为N₁的离散MSD窗函数序列，并对其进行p-1次自卷积运算以得到由p个离散MSD窗函数序列构建的卷积序列；

在所述卷积序列末尾补零以得到所述长度为N_p的MSD-SCW函数；

其中，所述p表示原始母窗的个数，所述N_p＝pN₁。

4.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，获取的所述长度为N_p的MSD-SCW函数为四阶MSD-SCW函数。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

对所述离散电力信号进行预处理；

利用FFT对预处理后的所述离散电力信号进行处理得到第二离散谱；

找到所述第二离散谱的主谱线；

根据所述第二离散谱的主谱线得到所述次/超同步谐波的所述相位参数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述Nuttall单窗函数为四项五阶Nuttall单窗函数。

7.一种次/超同步谐波参数识别装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取电力信号；

离散化模块，用于对所述电力信号进行离散化以得到离散电力信号；

第一分析模块，用于利用加窗插值FFT对所述离散电力信号截断加权，利用FFT对截断加权后的所述离散电力信号进行处理得到所述次/超同步谐波的第一离散谱；在所述第一离散谱的理论峰值频点左边和右边的谱线中找到最大的四根谱线；利用最小二乘法对找到的所述四根谱线进行拟合以得到拟合曲线，根据所述拟合曲线得到所述电力信号中次/超同步谐波的幅值参数和频率参数，其中所述电力信号中次/超同步谐波的幅值参数和频率参数是通过由最小二乘法对至少两个谱线进行拟合得到的拟合曲线计算得到的；以及第二分析模块，用于利用apFFT对所述离散电力信号进行处理以得到所述电力信号中次/超同步谐波的相位参数；以及对所述离散电力信号进行处理之前需要进行预处理，所述预处理包括以所述离散电力信号的数据样本中心点为基准对齐，并做循环移位处理后获得全相位子段；采用Nuttall单窗函数在第一加窗位置点和第二加窗位置点对所述全相位子段进行加权；所述第一加窗位置点为所述离散电力信号的截断数据的位置点，所述第二加窗位置点为所述全相位子段进行加权的位置点。