[发明专利]支持采用外部输入/输出接口对测试、调试或追踪信息的传递的装置、系统和方法在审
申请号: | 202010895855.0 | 申请日: | 2016-07-20 |
公开(公告)号: | CN112214363A | 公开(公告)日: | 2021-01-12 |
发明(设计)人: | R·H·屈尼斯;S·M·梅农;P·埃德 | 申请(专利权)人: | 英特尔IP公司 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G06F11/34 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 付曼;姜冰 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支持 采用 外部 输入 输出 接口 测试 调试 追踪 信息 传递 装置 系统 方法 | ||
经由通用输入/输出(I/O)接口来交换测试、调试或追踪(TDT)信息的技术和机制。在实施例中,装置的I/O接口耦合到外部TDT单元,其中I/O接口与互连标准兼容,所述互连标准支持除了任何测试信息、调试信息或追踪信息之外的数据的传递。一个或多个电路组件驻留于装置上或者以其它方式经由I/O接口来耦合到外部TDT单元。经由I/O接口所交换的信息通过评估一个或多个电路组件的一个或多个TDT操作的执行来生成或者引起一个或多个TDT操作的执行。在另一个实施例中,装置的胶连逻辑将I/O接口与测试接入点进行接口,所述测试接入点耦合在一个或多个电路组件与I/O接口之间。
相关申请的交叉引用
本申请要求2015年10月23日提交的美国临时申请No. 60/245,931的权益,通过引用将其全部内容结合到本文中。
技术领域
本文所讨论的实施例一般涉及微电子电路装置,以及更具体地(但排他地)涉及使用通用接口来评估集成电路的操作。
背景技术
当前,典型膝上型电脑、平板电脑、智能电话或其它系统包括片上系统(SoC)和/或其它集成电路(IC),其经由JTAG(或cJTAG)接口来调试和测试。典型地,期望经由存在于系统上的高速接口从系统电路(例如SoC或其它IC)发送调试追踪。JTAG测试数据输出(TDO)引脚也能够用来发送输出调试追踪,尽管以更低数据速率进行。典型地,IEEE-1149.1 JTAG接口以大约100 MHz运行。IEEE标准委员会还已经经由IEEE-1149.7标准来发展2引脚JTAG接口(又称作紧凑JTAG或cJTAG),其将TMS和TCK信号用于调试和测试。由于JTAG接口的数据速率典型地为大约100 Mhz并且大多数追踪要求比JTAG数据速率要高得多,所以追踪按常规经由专用高速串行追踪端口从系统发出。然而,随着装置趋向于具有更少外部连接器的“封闭机箱”解决方案,存在对消除特定于支持测试、调试和/或追踪信息的外部端口的增加需求。
附图说明
作为示例而不是作为限制来在附图中的图中示出本发明的各种实施例,并且其中:
图1是示出根据常规技术的、执行调试和追踪操作的片上系统的元件的功能框图。
图2是示出根据实施例的、提供执行测试、调试或追踪(TDT)功能性的系统的元件的功能框图。
图3是示出根据实施例的、评估电路组件的方法的元件的流程图。
图4是示出根据实施例的、支持追踪和调试操作的系统的元件的功能框图。
图5是示出根据实施例的、基于存储器映射输入/输出信息来评估电路的系统的元件的功能框图。
图6是示出根据实施例的、基于存储器映射输入/输出信息来评估电路的系统的元件的功能框图。
图7是示出根据实施例的、执行TDT操作的系统的元件的功能框图。
图8A、图8B是各自示出根据对应实施例的、评估一个或多个电路组件的相应系统的元件的功能框图。
图9A、图9B是各自示出根据对应实施例的、评估一个或多个电路组件的相应系统的元件的功能框图。
图10是示出根据实施例的、执行菊花链装置的TDT评估的系统的元件的功能框图。
图11是示出根据一个实施例的示范计算机装置的功能框图。
具体实施方式
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