[发明专利]一种光学检测反应曲线优化算法在审

专利信息
申请号: 202010894742.9 申请日: 2020-08-31
公开(公告)号: CN112034162A 公开(公告)日: 2020-12-04
发明(设计)人: 耿宝学;冉军;夏斌 申请(专利权)人: 成都艾科斯伦医疗科技有限公司
主分类号: G01N33/536 分类号: G01N33/536;G01N33/53;G01N33/86;G01N21/31
代理公司: 成都东唐智宏专利代理事务所(普通合伙) 51261 代理人: 罗言刚
地址: 610000 四川省成都市双*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学 检测 反应 曲线 优化 算法
【权利要求书】:

1.一种光学检测反应曲线优化算法,包括如下步骤:

S1光学信号采集板负责采集光学信号;采集数据为m个离散数据;

S2信号采集完毕后,按照时间顺序汇总信号数据;

S3将信号数据拟合出一个3次多项式曲线方程;

S4判断该3次多项式方程的确定系数R²是否大于预设值,如果R²大于预设值,则认为拟合出的曲线方程符合要求,执行步骤S5;如果R²小于预设值,则认为曲线方程不满足要求,执行修正步骤S6;

S5以拟合出的3次多项式曲线方程为公式,计算吸光度;

其特征在于,所述修正S6步骤的具体过程是:

S61对步骤S1 得到的m个信号数据,按照预设长度n,nm,将m个数据按照时间顺序分为多组数据组,每组包括n个信号数据,当m不能被n 整除时,仅任意一组取不足n个数据,依次为每组数据拟合一条初始直线方程F1i,得到p=INT(m/n)个方程Fi,i=1,2…p;其中INT表示进位取整;

S62针对p个初始直线方程F1i,以每个初始直线方程的斜率S1i作为纵坐标,以横坐标单位坐标1,2…p作为横坐标,再次拟合一条修正直线方程F2;

S63根据修正直线方程F2,以方程F2上横坐标1,2…p对应的纵坐标作为新的斜率值,记为数据S2i;

S64计算p个S1i和S2i的差值,记为集合D1,包括p个D1i=S1i-S2i;

S65针对集合D1,根据筛选标准,选出符合筛选标准的待替换数据,定义为集合D2;

S66对集合D2中的各个待替换数据,在D1集合内左右两端找到最邻近的且不符合筛选标准的数据,以该组数据对应的初始直线方程替换待替换数据对应的初始直线方程;形成新的p个方程,记为F4;

S67针对p个方程F4,依次操作对应的数据组:如果方程和之前的F1一致,则保留其所在的原始信号数据,否则用更新后的方程F4计算新的信号数据,代替原信号数据;

替换后返回步骤S3继续拟合,直至进入步骤S5。

2.如权利要求1所述的优化算法,其特征在于:步骤S65的筛选标准是:选出值未落在(V-2SD,V+2SD)范围内的数据作为待替换数据,其中V和SD分别为集合D1的平均值和标准差。

3.如权利要求1所述的优化算法,其特征在于:步骤S1的采集时间从免疫反应开始到免疫反应结束。

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