[发明专利]一种用于LCD屏幕的缺陷检测方法、装置

权利要求书

1.一种用于LCD屏幕的缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取LCD屏幕的屏幕图像；

对所述屏幕图像中的缺陷进行粗略查找，提取出缺陷所在的可疑区域；

基于可疑区域对该可疑区域中的每个像素点进行聚类处理，得到聚类结果，每个聚类结果对应一个可疑缺陷；

根据所述聚类结果计算该聚类结果对应的可疑缺陷的宽度和长度，基于可疑缺陷的宽度和长度确定该可疑缺陷是否为屏幕缺陷，以及所属的屏幕缺陷类型；

其中，根据所述聚类结果计算该聚类结果对应的可疑缺陷的宽度和长度，包括：

将每个聚类结果对应的可疑缺陷从所述屏幕图像上裁剪出来，得到每个可疑缺陷对应的裁剪图像；对所述裁剪图像进行边缘检测，得到边缘图像，并计算边缘图像上每个轮廓点与其临近的轮廓点构成的第一直线，以及根据每个轮廓点计算与第一直线垂直的第二直线；基于第一直线计算每个轮廓点对应的可疑缺陷的长度参考值，基于第二直线计算每个轮廓点对应的可疑缺陷的宽度参考值；根据每个轮廓点对应的可疑缺陷的长度参考值与宽度参考值，计算可疑缺陷的长度与宽度。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，基于第一直线计算每个轮廓点对应的可疑缺陷的长度参考值，基于第二直线计算每个轮廓点对应的可疑缺陷的宽度参考值，包括：

对每个轮廓点，计算由所述边缘图像上属于第一直线的两个轮廓点所确定的第一最长线段，所述第一最长线段为基于该轮廓点计算得到的可疑缺陷的长度参考值；以及，计算由该轮廓点与所述边缘图像上属于第二直线的轮廓点所确定的第二最长线段，所述第二最长线段为基于该轮廓点计算得到的可疑缺陷的宽度参考值；

根据每个轮廓点对应的可疑缺陷的长度参考值与宽度参考值，计算可疑缺陷的长度与宽度，包括：

过滤掉轮廓点中的干扰点，得到有效轮廓点；

计算所述边缘图像上所有有效轮廓点对应的长度参考值的均值得到可疑缺陷的长度，以及计算边缘图像上所有有效轮廓点对应的宽度参考值的均值得到可疑缺陷的宽度。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，过滤掉轮廓点中的干扰点，得到有效轮廓点，包括：

计算每个轮廓点对应的第二直线的斜率角；

对全部轮廓点对应的第二直线的斜率角进行投票，筛选出斜率角与得票最多的斜率角的差值在预设角度范围内的第二直线对应的轮廓点，得到有效轮廓点。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，基于可疑区域对该可疑区域中的每个像素点进行聚类处理，包括：

根据屏幕像素点与屏幕图像像素点之间的对应关系设置平滑宽度，基于所述平滑宽度对所述屏幕图像上所述可疑区域进行平滑处理，得到平滑后的图像；

通过最大类间方差计算平滑后的图像中每个像素点对应的全局二值化阈值，以及通过最大熵算法计算平滑后的图像中每个像素点对应的局部阈值；

根据平滑后的图像中每个像素点对应的全局二值化阈值、局部阈值将图像二值化，得到二值图像；

在二值图像上对该可疑区域中的每个像素点进行聚类处理。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，基于可疑区域对该可疑区域中的每个像素点进行聚类处理，包括：

对可疑区域内符合聚类条件的任一像素点进行聚类处理，并判断该可疑区域内是否还有未被聚类处理且符合聚类条件的其他像素点；

如果有其他像素点，对其他像素点进行聚类处理，直至所有符合聚类条件的像素点都被聚类处理；

如果没有其他像素点，结束对该可疑区域中的像素点的聚类处理。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，对可疑区域内符合聚类条件的任一像素点进行聚类处理，包括：

设置二值图像中表示缺陷的像素点灰度值为第一灰度值；

设置二值图像中表示背景的像素点灰度值为第二灰度值，第二灰度值的像素点为不符合聚类条件的像素点；

对可疑区域内为第一灰度值的任一像素点进行聚类处理。