[发明专利]一种目标对象组装精度的检测方法、装置及系统有效
| 申请号: | 202010879194.2 | 申请日: | 2020-08-27 |
| 公开(公告)号: | CN112146568B | 公开(公告)日: | 2022-06-14 |
| 发明(设计)人: | 杨耀华;李磊;安玉存;张磊;王鑫;刘雪莲;张秀廷;刘荣 | 申请(专利权)人: | 北京天瑞星光热技术有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
| 代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 李博洋 |
| 地址: | 100089 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 目标 对象 组装 精度 检测 方法 装置 系统 | ||
1.一种目标对象组装精度的检测方法,其特征在于,包括:
根据目标对象的特征长度,确定所述目标对象的第一方向的多个第一特征点;
分别获取各所述第一特征点的第一坐标值以及第二坐标值,所述第一坐标值为所述第一特征点在第一坐标方向上的坐标值,所述第二坐标值为所述第一特征点在第二坐标方向上的坐标值;
根据所述第一坐标值、预设参数值,确定所述第二坐标值的理论值;
根据所述第二坐标值以及所述第二坐标值的理论值,确定所述第一特征点的组装精度;
根据所述目标对象的第一方向的多个第一特征点,确定所述目标对象的第二方向的多个第二特征点;
分别获取第二特征点的第三坐标值以及第四坐标值,所述第三坐标值为所述第二特征点在第一坐标方向上的坐标值,所述第四坐标值为所述第二特征点在第二坐标方向上的坐标值;
根据所述第三坐标值、预设参数值,确定所述第四坐标值的理论值;
根据所述第四坐标值以及所述第四坐标值的理论值,确定所述第二特征点的组装精度;
根据所述目标对象的第一方向的多个第一特征点的组装精度以及所述目标对象的第二方向的多个第二特征点的组装精度,确定所述目标对象的组装精度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在根据所述第二坐标值以及所述第二坐标值的理论值,确定所述第一特征点的组装精度的步骤之后,还包括:
在所述第一方向获取所述目标对象的多个固定点的第一测量坐标值,以及在所述第二方向获取所述目标对象的多个固定点的第二测量坐标值;
当所述固定点的所述第一测量坐标值与所述第二测量坐标值相匹配时,执行所述根据所述目标对象的第一方向的多个第一特征点,确定所述目标对象的第二方向的多个第二特征点的步骤;
其中,在所述第一方向获取所述目标对象的多个固定点的第一测量坐标值,以及在所述第二方向获取所述目标对象的多个固定点的第二测量坐标值,包括:
在所述第一方向为激光跟踪仪放置于目标对象的南面时,获取多个固定点的第一测量坐标值,以及在第二方向为所述激光跟踪仪转站移动至目标对象的北面时,获取多个固定点的第二测量坐标值。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过激光跟踪仪获取所述目标对象各特征点的坐标值;所述预设参数值包括所述目标对象的抛物线焦距值、所述激光跟踪仪的靶球半径、所述目标对象反射镜的厚度值以及所述目标对象反射镜的预设方向坐标值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,通过下述公式,计算所述第二坐标值的理论值:
其中,z表示所述第二坐标值的理论值;P表示所述目标对象的抛物线焦距值;x表示所述第一特征点的第一坐标值;a表示所述激光跟踪仪的靶球半径,b表示所述目标对象反射镜的厚度值,C表示所述目标对象的反射镜的预设方向坐标值。
5.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标对象的第一方向的多个第一特征点的组装精度以及所述目标对象的第二方向的多个第二特征点的组装精度,确定所述目标对象的组装精度,具体包括:
计算所述目标对象的第一方向的多个第一特征点的组装精度以及所述目标对象的第二方向的多个第二特征点的组装精度的均值,所述均值即为所述目标对象的组装精度。
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