[发明专利]一种多孔径系统光瞳检测与校正方法

权利要求书

1.一种多孔径系统光瞳检测与校正方法，其特征在于：该方法依托的检测与校正平台包括望远镜缩束系统(1)、三维位移台折转调节镜组(2)、合束器镜组(3)、第一分光镜(4)、第二分光镜(5)、反射镜(6)、可调缩束器(7)、探测相机(8)和光瞳控制系统(9)，由激光器发出标校激光经分束板，反射镜，扩束器，第二分光镜(5)和第一分光镜(4)，合束器镜组(3)，三维位移台折转调节镜组(2)，望远镜缩束系统(1)，到达标准平面反射镜后原路返回到第二分光镜(5)，一部分光束透射到达反射镜(6)，经可调缩束器(7)到达探测相机(8)；可调缩束器(7)的焦距调节范围由多孔径系统的孔径数量n、可调缩束器(7)的缩束比β、各光瞳扰动范围p以及探测相机(8)的靶面大小S决定，可调缩束器(7)的焦距调节范围既要保证在光瞳扰动干扰下多个光瞳光斑之间不连通，又要保证在光瞳扰动干扰下多个光瞳光斑不可超出探测相机(8)的有效探测靶面；适当调节可调缩束器(7)和探测相机(8)的距离，既要保证在光瞳扰动干扰下多个光瞳光斑之间不连通，又要保证在光瞳扰动干扰下多个光瞳光斑不可超出探测器相机(8)的有效探测靶面；根据探测相机(8)上显示的各光束光斑分布的疏密状态和光斑实际扰动量来调节可调缩束器(7)的焦距，使探测相机(8)上各光束光斑的疏密分布状态介于光束光斑连通状态与光束光斑脱离有效探测靶面状态之间，由探测相机(8)获取的光斑位置信息输入到光瞳控制系统(9)中进行控制量的解算，通过控制驱动量校正各孔径光路中的三维位移台折转调节镜组(2)，完成各孔径光瞳位移量的闭环校正控制。

2.根据权利要求1所述的一种多孔径系统光瞳检测与校正方法，其特征在于：根据不同的光斑形态，探测相机(8)同时提取多光瞳光斑的质心或形心的位置信息，将位置信息传送到光瞳控制系统进行控制量的解算，通过控制驱动量校正各孔径光路中的三维位移台折转调节镜组(2)，完成各孔径光瞳位移量的闭环校正控制。