[发明专利]一种便携式电厚度测试仪相位校准方法

权利要求书

1.一种便携式电厚度测试仪相位校准方法，包括相位测试波导装置，其特征在于：将所述相位测试波导装置连接到便携式电厚度测试仪上，波导另一端面放置不同厚度δ的被测雷达天线罩介质平板和金属壁反射板，读出相位测量值φ，校准建立相位测量值与电厚度之间的矢量对应关系；

通过相位检测装置同时读取合成反射信号的幅值和相位信息，即矢量反射信号Y，则可建立与模具反射矢量信号X之间的单调复数保圆分式线性变换关系：Y＝a(X-b)/(X-c)，通过改变δ，即改变X，并读出Y，即可求解得到变换系数(a,b,c),实现测试装置的矢量校准。

2.根据权利要求1所述的便携式电厚度测试仪相位校准方法，其特征在于：所述对应关系在介质端面反射干扰小于包含IPD信息的模具反射信号时是单调的，当介质端面反射大于后者时，将出现非单调映射，不能直接通过相位测量值指示电厚度信息的情况。

3.根据权利要求1所述的便携式电厚度测试仪相位校准方法，其特征在于：在实测中通过测量值Y的反变换求的X，从而获取电厚度信息。

4.根据权利要求1所述的便携式电厚度测试仪相位校准方法，其特征在于：还包括校准过程，包括：

步骤S1，将所述相位测试波导装置连接到便携式电厚度测试仪上；

步骤S2，波导另一端面放置厚度δ1(X1)的被测雷达天线罩介质平板和金属壁反射板，读出相位测试值φ1(Y1)；

步骤S3，波导另一端面放置厚度δ2(X2)的被测雷达天线罩介质平板和金属壁反射板，读出相位测试值φ2(Y2)；

步骤S4，波导另一端面放置厚度δ3(X3)的被测雷达天线罩介质平板和金属壁反射板，读出相位测试值φ3(Y3)；

步骤S5，根据Y＝a(X-b)/(X-c)，测试函数中a，b，c形成校准曲线。

5.根据权利要求4所述的便携式电厚度测试仪相位校准方法，其特征在于：校准过程中，发射天线与接收天线公用一个天线。

6.根据权利要求4所述的便携式电厚度测试仪相位校准方法，其特征在于：校准过程中，消除雷达罩前端面产生的无效信号，保留有效反射信号。

7.根据权利要求4所述的便携式电厚度测试仪相位校准方法，其特征在于：校准过程中，厚度δ1、厚度δ2、厚度δ3构成线性关系。