[发明专利]伺服驱动器老化测试方法、系统、装置和存储介质

说明书

本发明公开了一种伺服驱动器老化测试方法、系统、装置和存储介质，所述方法包括将伺服驱动器所在环境温度调整至设定温度；根据电机转速曲线控制伺服驱动器；采集测试参数；确定测试参数在设定阈值范围内，则伺服驱动器合格；其中，电机转速曲线包括若干个运行周期，运行周期包括一倍扭矩输出阶段、二倍扭矩输出阶段和三倍扭矩输出阶段。本发明实施例在设定环境温度下改变伺服驱动器的扭矩，并实时采集伺服驱动器的测试参数，通过测试参数实现对于伺服驱动器的老化测试。相较于现有的变负载的伺服驱动器老化测试方式，通过变扭矩进行伺服驱动器老化测试更符合伺服驱动器的运行状态，准确性更高。本发明可广泛应用于伺服驱动器测试领域中。

技术领域

本发明涉及伺服驱动器测试技术领域，尤其涉及一种伺服驱动器老化测试方法、系统、装置和存储介质。

背景技术

随着工业技术的发展，自动化设备的地位越来越重要，这也带动了其各个组成部分的发展，伺服电机作为自动化设备重要的执行部件，对其进行控制的伺服驱动器在行业内需求量巨大。伺服驱动器在长期使用过程中需要保持可靠性，不能经常出现故障而影响使用。而在比较恶劣的使用环境条件下，由于伺服驱动器的个别功率器件的原因，伺服驱动器长时间运行很容易出现故障。如安装伺服驱动器的配电柜通风散热条件差，导致伺服驱动器处于一个极限的运行温度环境中，此时伺服驱动器的某些功率器件由于自身发热，加上散热条件差，导致这些器件会在一个很高的温度下运行，这些器件会决定了整个伺服驱动器的运行可靠性。因此在伺服驱动器完成线上组装测试通过后，需要抽检进行老化测试，确保伺服驱动器在使用过程中的可靠性。

目前，伺服驱动器老化测试方法主要使用对拖伺服驱动器，通过对拖伺服驱动器实现变负载，从而实现伺服驱动器的老化测试。但是由于在实际生产过程中负载一般保持恒定，从而导致变负载的老化测试方式的测量结果并不准确。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的是提供一种伺服驱动器老化测试方法、系统、装置和存储介质，以提高伺服驱动器老化测试的准确性。

本发明所采用的第一技术方案是：

一种伺服驱动器老化测试方法，包括：

根据第一输入获取设定温度，将所述伺服驱动器所在环境温度调整至所述设定温度；

根据电机转速曲线控制所述伺服驱动器；

采集测试参数，所述测试参数包括伺服驱动器的温度、伺服驱动器的母线电压、伺服电机的扭矩输出、伺服驱动器的输出电流和伺服电机的转速；

确定所述测试参数在设定阈值范围内，则所述伺服驱动器合格；

其中，所述电机转速曲线包括若干个运行周期，所述运行周期包括一倍扭矩输出阶段、二倍扭矩输出阶段和三倍扭矩输出阶段。

进一步，所述根据电机转速曲线控制所述伺服驱动器步骤之前，还包括：

控制所述伺服驱动器在第一时间段内接通；

确定在所述第一时间段内，所述伺服电机转动且所述伺服驱动器无警报，则执行所述根据电机转速曲线控制所述伺服驱动器步骤。

进一步，所述根据电机转速曲线控制所述伺服驱动器步骤之前，还包括：

控制所述伺服驱动器在第二时间段内接通；

根据第二输入获取待定电机转速曲线，根据所述待定电机转速曲线控制所述伺服驱动器；

确定所述第二时间段内所述伺服驱动器的扭矩与所述待定电机转速曲线的扭矩匹配，将所述待定电机转速曲线作为电机转速曲线。