[发明专利]存储器系统、存储器控制器以及操作存储器系统的方法

说明书

本公开的实施例涉及一种存储器系统、存储器控制器以及操作存储器系统的方法。根据本公开的实施例，存储器系统可以使用多个读取偏压之中的、优先读取偏压组中的多个读取偏压中的至少一个来执行第一读取重试操作；并且根据第一读取重试操作的结果，使用在读取重试表中的、未在优先读取偏压组中的一个或多个剩余的读取偏压来执行第二读取重试操作。此时，当对目标存储器区域执行读取重试操作时，可以在剩余的读取偏压之前选择优先读取偏压组中的读取偏压。因此，在执行读取重试操作时，存储器系统能够使由于读取重试操作导致的读取性能的劣化最小化，并且减少不必要的读取次数。

相关申请的交叉引用

本申请要求于2020年3月9日提交的申请号为10-2020-0028860的韩国专利申请的优先权，该韩国专利申请通过引用整体并入本文。

技术领域

本公开的实施例涉及一种存储器系统、存储器控制器以及操作存储器系统的方法。

背景技术

例如存储装置的存储器系统基于诸如计算机、移动终端(例如，智能电话或平板电脑)或各种其它电子装置中的任意一种的主机的请求来存储数据。存储器系统可以是被配置成诸如硬盘驱动器(HDD)的将数据存储在磁盘中的类型，或者被配置成诸如固态驱动器(SDD)、通用闪存(UFS)装置或嵌入式MMC(eMMC)装置的将数据存储在非易失性存储器中的类型。

存储器系统可以进一步包括用于控制存储器装置的存储器控制器。存储器控制器可以接收从主机输入的命令，并且可以基于所接收的命令执行或控制用于读取、写入或擦除存储器系统中包括的易失性存储器或非易失性存储器中的数据的操作。存储器控制器可以驱动用于执行逻辑运算的固件以用于运行或控制这些操作。

当由于读取(或尝试读取)存储器装置中的数据的进程中的阈值电压分布的劣化导致读取操作失败时，存储器系统可以执行读取重试操作。当执行读取重试操作时，存储器系统可以在改变用于读取数据的读取偏压之后执行读取重试操作。

发明内容

本公开的实施例可以提供一种能够使在阈值电压分布劣化的情况下由于读取重试操作导致的读取性能的劣化最小化的存储器系统、存储器控制器以及操作存储器系统的方法。

另外，本公开的实施例可以提供一种能够减少读取重试操作期间的不必要的读取次数的存储器系统、存储器控制器以及操作存储器系统的方法。

在一方面，本公开的实施例可以提供一种存储器系统，包括：存储器装置，包括多个存储器区域；以及存储器控制器，被配置成控制存储器装置。

当对多个存储器区域的目标存储器区域执行读取重试操作时，存储器控制器可以使用读取重试表中的多个读取偏压之中的、优先读取偏压组中的多个读取偏压中的至少一个来对目标存储器区域执行第一读取重试操作。

存储器控制器可以根据第一读取重试操作的结果，使用在读取重试表中的、未在优先读取偏压组中的一个或多个剩余的读取偏压来对目标存储器区域执行第二读取重试操作。

此时，当对目标存储器区域执行读取重试操作时，可以在剩余的读取偏压之前选择读取偏压组中的读取偏压。

存储器控制器可以控制存储器装置执行第一读取重试操作，直到使用优先读取偏压组中的读取偏压中的一个从目标存储器区域读取数据成功为止，或者直到对于优先读取偏压组中的所有读取偏压从目标存储器区域读取数据都失败为止。

例如，当执行第一读取重试操作时，可以基于从多个存储器区域中的任意一个读取数据成功的时间来选择第一读取偏压。

作为另一示例，当执行第一读取重试操作时，可以基于在设定时间段期间从多个存储器区域中的任意一个中读取数据成功的次数来选择第一读取偏压。

存储器控制器可以基于第一读取重试操作的结果和第二读取重试操作的结果中的至少一个来更新关于优先读取偏压组的信息。