[发明专利]图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质

说明书

本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置；采用指定频率范围内的光对图像传感器进行曝光并存储图像传感器的多幅感光图像；在图像传感器的感光图像上查找第一像素，记录第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值；根据第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到图像传感器的串扰值。本发明实施例提供的图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备及存储介质通过指定频率范围内的光获得多幅感光图像，通过分析感光图像得到图像传感器的串扰值，使用方法简单，测试成本低，不易受到光学衍射的影响，结果准确。

技术领域

本发明涉及图像传感器检测技术领域，尤其涉及一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质。

背景技术

图像传感器是利用半导体(多为硅)光电器件的光电转换功能将入射的光子转换为电信号读出的器件。常见的图像传感器包括CCD(Charge Coupled Device，电荷耦合器件)和CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor，互补金属氧化物半导体器件)等。图像传感器广泛应用于工业、科研、安防等领域，有着广泛的市场应用基础。

图像传感器在工作时，如果入射光斑足够小，仅投射并覆盖图像传感器感光阵列中的单个像素，这一像素受光后产生电信号。该像素周边的像素因未受到光斑的照射，理论上应当无电信号输出。但实际上由于可见光子在介质中被散射到周围像素、光电转换产生的电子在收集过程中移动到周围像素等诸多因素的作用，邻近受光像素的周边像素同样会产生微小信号输出。这种现象被称为图像传感器的串扰。

由于工艺的提升，图像传感器的像素越来越小，其电子学耦合的串扰会影响图像传感器的性能。严重的串扰会使得图像传感器图像模糊，分辨率变差。

现有技术中的串扰测试方法主要是将可见光约束到亚像素大小后对传感器进行测试。例如在遮光板上设置小孔或将激光光斑约束在微米量级。现有技术中的方法对测试装置要求较高，测试成本高，易于受到光学衍射的影响。

发明内容

针对现有技术中的缺陷，本发明实施例提供一种图像传感器的串扰测试方法、装置、电子设备与存储介质。

本发明实施例第一方面提供一种图像传感器的串扰测试方法，包括：

将图像传感器按照预设的实验室条件进行放置；

采用指定频率范围内的光对所述图像传感器进行曝光并存储所述图像传感器的多幅感光图像；

在所述图像传感器的感光图像上查找第一像素，记录所述第一像素的亮度值以及多个第二像素的亮度值；其中，所述第一像素是所述感光图像上对所述指定频率范围内的光的光子具有信号响应的像素，所述第二像素是以所述第一像素为中心的邻接像素；

根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到所述图像传感器的串扰值。

上述技术方案中，所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到所述图像传感器的串扰值，包括：

在所述图像传感器的多幅感光图像中得到所述第一像素的多个亮度值以及任一第二像素的多个亮度值；

根据所述第一像素的多个亮度值以及所述任一第二像素的多个亮度值进行数据拟合，得到所述任一第二像素的串扰值；

根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值。

上述技术方案中，在所述根据所述多个第二像素的串扰值得到所述图像传感器的串扰值的步骤之前，所述根据所述第一像素的亮度值以及所述多个第二像素的亮度值进行数据拟合，得到所述图像传感器的串扰值还包括：